基于BIST的编译码器IP核测试

通过测试外壳控制输入／输出寄存器将编译码器隔离使它们互不影响，正常状态和测试状态能够切换，提高了IP核的可测性。具体的实现过程如下：

(1)正常状态下原始码输入编码器，由其输出的码再进入译码器又转换为原始码；

(2)测试状态下测试外壳的测试向量输入编码器，由其输出的码直接进入译码器，由译码器输出的码为测试响应输出，使其与期望值比较；图3中的模式选择模块的逻辑结构如图4所示。

图4中mod为模式选择控制端，置0为正常状态。当rood为1时，out_sel输入测试向量，再由in_tem输出，进入in_sel；当mod 为0时，cod_out输出片外，从而实现了正常状态和测试状态的切换。可以用硬件描述语言编写此逻辑电路。用VHDL描述如下：

此模式选择模块实现状态之间的切换，电路简单，易于实现。

5 结束语

BIST为嵌入式内核的测试提供了一个可解决的方案，其测试效果明显，故障覆盖率较高，实现简单。通过加入测试外壳可以实现对IP核的访问、隔离、控制，有效地提高了IP核的可测性。但是采用BIST会使电路面积增加额外开销，必须在IP核的可测性和面积之间进行权衡。

作者：谢志远 杨兴 胡正伟 来源：21IC电子网