TMS320F2812芯片开发中Flash代码性能的研究

TMS320F2812是目前性能非常优秀的32位定点DSP，集成了多种外设。对TMS320F2812开发通常利用TI公司的CCS2集成开发环境，使用JTAG接口仿真器连接目标板，可以不占用用户资源实现全速/断点调试;仿真调试完成后对CMD文件进行相关修改，并用RTS2800_FL04830.LIB替换RTS2800N.LIB，必要时对程序中变量与函数分配的空间做部分调整后，编译项目得到输出文件;在CCS2集成开发环境中完成下载、加密等操作后，断电脱离仿真机，成为独立运行的嵌入式系统。

然而，相当多的应用设计者常常面临程序仿真通过，但独立运行失败的情况，表现均为程序代码运行性能比估计的要差很多，以致来不及处理实时数据。由于代码在FLASH中运行的时间比在SARAM中仿真的时间长，有的设计试验出现在FLASH中运行比仿真慢4倍以上的结果，使设计只能停留在仿真通过的层次上。

1 分析

TI公司提供的一篇文档资料spra958e.pdf，描述了在内部FLASH中运行程序的相关知识，说明当在RAM中仿真速度为150 MIPS时，相应FLASH中的执行速度可达90～1OO MIPS;同时。在此文档资料中提供了参考实例，但介绍性文字较多，实现高性能的具体配置方式描述不够具体。经反复阅读TI公司的其他相关文档资料，并编程对比实验，笔者摸索出实现FLASH中运行速度达到RAM中仿真速度的75%左右的方法，与TI指标相符合。下面详细说明试验程序与方法。限于篇幅，只列出与试验过程密切相关部分的配置情况。试验程序使用的空间分配如表1所列。

试验程序如下：

来源：维库开发网