G652D光纤宏弯损耗测试方法的实践及数据分析

整体数据汇总图形如下：

从整体数据汇总图可看出Φ32mm*1宏弯测试方法所得数据的平均值和标准偏差都比Φ60mm*100的要小，且数据相对稳定，重复性好。当然所抽样品也不是完全都遵循此规律，10个样品中有3个样品在1625nm窗口下Φ32mm*1所得数据的平均值大于Φ60mm*100所测得的；还有1个样品在1550nm、1625nm窗口下所得数据的标准偏差大于Φ60mm*100的。

10个样品用两种测试方法所得数据的平均值和标准偏差相差不大，处于一个数据等级内。Φ32mm*1的判断标准应考虑的与60mm*100比较接近。

在测试过程中，Φ32mm*1宏弯测试方法易于操作，能减少测试误差，根据GB/T9771.3-2008宏弯损耗的说明，认为Φ32mm*1宏弯测试方法可作为判断光纤宏弯性能的一种简便方法。

而Φ60mm*100作为标准明确规定一种方法，其准确性的提高需依赖于测试装置的改良，如，保证光纤以尽可能一致的直径、适宜的张力缠绕100圈。

二、宏弯与截止波长的关系

为更好的摸索宏弯损耗与截止波长的关系，随机抽取760个样品进行实验，实验数据如图1、图2：

图1：1550nm宏弯损耗与截止波长分布

图2：1625nm宏弯损耗与截止波长分布

由图1可明显看出1625nm的数据较1550nm窗口下宏弯损耗分散，实际数据证实长波长对弯曲的敏感程度更甚。

由图2可看出1625nm宏弯损耗相对集中时对应的截止波长也相对集中分布在1210nm-1290nm，截止波长越小，宏弯损耗越大，且分布散乱无规律。

通过以上分析，可以看出截止波长对宏弯损耗有一定的影响，当截止波长分布在1210nm-1290nm范围内时，1550nm、1625nm窗口下宏弯损耗相对集中，数据稳定，这为我们优化工艺改善宏弯损耗提供了有利的数据依据。

三、结论

1、Φ32mm*1宏弯测试方法可作为判断光纤宏弯性能的一种简便方法。

2、而Φ60mm*100作为标准明确规定的一种方法，其准确性的提高需依赖于测试装置的改良。

3、大量实践数据验证了截止波长与宏弯损耗存在相关性。