基于PON技术的OTDR法测试方案

　　理想的情况是，从有故障的ONT直接开始故障诊断，以便于从端点（最高到OLT）解决光纤链路事件。有经验的用户将利用较小脉冲宽度（如 5、10 或 30 ns）进行故障诊断，以便以更高分辨率跟踪从ONT到分光器的事件，以此来逐步完成工作。

　　由于在较低的脉冲下，分光器分路处显示为光纤配线上的断裂，因此使用PON优化型OTDR以较大脉冲（如100至500 ns）进行二次取样，用户便可以在中心局 (CO) 验证累积损耗（最高到OLT），同时还能定位OLT和分光器之间的传输光纤上的所有弯曲问题。

　　PON普通型OTDR

　　使用普通OTDR设备时，即使具有光过滤功能，也会存在众多妨碍进行有效链路鉴定的因素，例如：

　　动态范围在中等脉冲宽度（100至500ns）下不足；

　　分辨率在较大脉冲宽度 (1000 ns) 下不足；

　　以及以下任何原因所导致的阶跃响应严重失真（分光器分路）：

　　a. 电子器件的临界稳定性（注意，下图所示曲线并非来自EXFO OTDR）

　　b. 强拖尾效应

　　c. 不合适的人为增益情况和不适合PON链路测试的设计

　　图1（a、b、c） 使用非PON优化型OTDR获得的1x32分光器之后的OTDR曲线示例

　　PON优化型OTDR

　　回到前面提到的相关示例，如果用户尝试确定 1x32 分光器和 OLT 之间的事件，那么图 1 所示曲线就没有多大用处。OLT和分光器之间的光纤上的宏弯可能会影响一些客户，而不会影响另外一些客户（在其光纤配线的损耗更低的情况下）。要在有故障的ONT上精确定位事件并将其快速修复，就必须使用PON优化型OTDR，完整地鉴定从ONT到OLT的光纤链路（如图 2 所突出显示的标记）。

　　图2 PON 优化型 OTDR 获得的从 ONT 到 OLT 分光器的曲线

　　使用 PON 优化型 OTDR，就能大大降低分光器分路后的失真，而且测试结果具有很高的可重复性和可靠性。另外，用户还可以测量分光器的损耗和链路累积损耗，并且可确定分光器之前或之后是否发生了任何预期之外的物理事件。

　　图3 线性视图简化了技术人员的OTDR曲线分析工作

　　在构建阶段，PON优化型OTDR也极具价值：1310/1550 nm精确测试可确保端到端链路完整性，从而显著降低客户激活后发生的问题数量。前述方法中仅使用1625/1650 nm（或者再加上 1310/1550 nm），这在构建完整网络的过程中也极具实用价值。在线测试建议使用1650 nm。

　　当然也有许多人认为使用1625 nm测试也是一个较好的选择。然而有一点很重要，就是在网络建设时，就需要使用带外波长进行测试并将结果保存为模版，这对于以后的维护阶段是非常有用的。这样，维护人员便可轻易定位异常，并且可以比较所有事件（连接器、熔接点和分光器）的损耗，从而清楚地确定出故障。

　　这就是FTB-7300E OTDR之类的PON优化型OTDR所具有的优点；FTB-7300E OTDR配备有能提供高质量信息的软件。摘要屏幕可以突出显示每个波长的通过/未通过状态、径距总损耗、从OLT到ONT距离上的径距ORL、宏弯标识和位置，再搭配FTB-200紧凑型平台提供的线性视图，将使技术人员的工作大大简化。

　　结论

　　根据应用选择正确的OTDR能够带来完全不同的效果。例如，具有在线故障诊断功能的FTB-7300E PON优化型OTDR能将PON OTDR在线光纤测试的性能和价值推上新的台阶。