使用APC连接器实现OTDR/iOLM长期性能最大化

　　By: Mario Simard

　　优化 OTDR 和 iOLM 软件应用程序的性能，应从光路的低反射强度开始考虑。因为较高的反射强度可能会拉长盲区。在测试 FTTx 网络时，反射强度对性能的影响更为显著，因为分光器会造成较大损耗。与 UPC 连接器相反，APC 连接器通常维持较低的反射强度，即使在脏污或磨损的情况下依然如此，从而确保最优的测试性能。

　　OTDR 设计用于处理网络上的高反射强度问题；但是，如果 OTDR 连接器上始终存在高反射强度，那么所有测试的性能都会受到影响，即使仅在 APC 的链路上也不例外。

　　反射强度对衰减盲区的影响

　　衰减盲区是一种规格指标，表示在反射点之后，OTDR 信号的光纤背向散射强度返回至低于 0.5 dB 的差值所需的距离。接收器电子器件和光电探测器都会导致在反射后出现恢复区。

　　在各厂商的 OTDR 规格指标中，衰减盲区的性能通常会被优越的反射条件而掩盖（–45 dB、–55 dB 甚至 –65 dB，具体取决于 OTDR 制造商）。众所周知，反射强度水平会直接影响 OTDR 盲区，随着反射强度的升高，盲区会变得更长。这是因为连接器反射强度可能比 OTDR 测得的背向散射信号强度高出很多数量级。

　　好的 UPC 连接器反射强度为 –55 dB，产生的信号峰值可能比 5 ns 脉冲的光纤背向散射（在 1550 nm 下约为 –75 dB）高 100 倍。不好的 UPC 连接器（反射强度通常为 –45 至 –25 dB）产生的信号峰值可能比光纤背向散射高 1000 至 100 000 倍。由于反射强度对背向散射的比值范围如此之大，因此显而易见的是，衰减盲区高度依赖于连接器反射强度。

　　图 1. 反射强度为 –45 dB 和 –25 dB 的典型 OTDR 曲线：反射强度为 –25 dB 时衰减盲区出现显著增长。