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地址总线测试还可采用快速测试的方法：对0x1地址的内存单元写入地址值0x1，地址值循环左移，依次将相应的地址值写入相应的内存地址，最后检验。

在本文的系统中，自检测试时只包括内存区测试。并且，由于测试时间的限制，只是随机选择内存的一些页面进行读写测试。对于其它的内存测试方法，可以用于出厂检验、开发阶段中的检测和维修诊断。

主控芯片测试

主控芯片测试主要是对主控芯片进行定时器测试、寄存器测试、中断测试和片内RAM测试。寄存器测试是对一些特殊寄存器的功能进行测试，以验证CPU寄存器是否能正常工作。中断测试是人为产生一些硬件中断，检测主控芯片对中断的反应，是否能及时标志中断寄存器的相应标志位。片内内存测试则遵循一般内存测试规则。

PLD/FPGA简单测试

在宽带交换机系统中，较大的FPGA常实现较复杂的功能。在测试时要对相关的功能进行详细的功能测试。而对于其它简单的小型PLD/FPGA则寻求自测的方法，在PLD或FPGA的编制过程中，适当的加入一些自测手段。当主控芯片要测试它们时，设置和读取相应的PLD或FPGA的测试接口，从而获得测试结果。

PCI总线测试

PCI总线常用于连接处理器和各类外设。它提供了一个低时延路径，使处理器能够直接存取任何映射在存储器或I/O地址空间的PCI设备。它还提供一个高带宽路径，允许PCI主设备直接到主存储器存取。测试方法是先测试是否能正确读写PCI配置空间寄存器，然后测试内存映射是否可以在两端正确读写。

嵌入式系统离线测试方法

增量测试模型

在单板测试完成后，系统集成在一起之后有可能仍不能正常工作。主要原因是，模块相互调用时接口会引入许多新问题。例如，数据经过接口可能丢失;一个模块对另一模块可能造成不应有的影响;模块之间的硬件连接不正确也可能造成通信不畅;误差不断积累达到不可接受的程度等等。所以需要通过综合测试来发现各种错误。

如果把所有模块按设计要求一次全部组装起来，然后直接运行系统软件，这称为非增量式集成。这种方法易出现混乱，在改正一个错误时又可能引入新的错误，新旧错误混杂，更难断定出错的原因和位置。增量式集成方法通过测试软件一段一段地扩展，测试的范围一步一步地增大，来逐步定位错误和纠正。根据系统的不同特点可以采用两种增量式集成模型：自底向上集成和自顶向下集成。

来源：半导体应用