LitePoint发布IQxstream移动测试系统

据外媒报道，LitePoint公司近日发布 IQxstream 稀动测试系统，除了具备兼容于 2G / 3G / 4G 的性能外，还可同时支持 FDD 与 TDD ，并提供4个 DUT 同时测试的能力，以因应未来的测试需求。

看好 LTE 技术在 4G 标准中的主流地位，除了北欧TeliaSonera、北美Verizon Wireless、MetroPCS及日本NTT DoCoMo等电信业者开始推出 LTE 服务外，在产业链上游的通讯晶片与通讯模组厂商亦针对 LTE 产品做出完整规划。不过，面对与现有2G/3G在规格上的差异，于产品研发阶段时的测试成本、测试时间及品质要求等要素俨然变成关键所在。

LitePoint公司开发的 IQxstream 稀动测试系统可望协助解决这些挑战。 IQxstream 具备Simple、Proven、Fastest及Safe Investment等4大特色。 IQxstream 内建多种主流的量测方式，并支持 LTE FDD / TDD、 GSM / EDGE、 W-CDMA 、 CDMA 2000 、 TD-SCDMA 等多种标准，并由于指令的精简化，使得测试软体撰写容易，以及确保测试解决方案的支持性。

Iqxstream把关测试品质

IQxstream 一次可支持4个 DUT (Multi-DUT)测试，因而大幅缩短测试时间，并采用 UMT (Utilization Maximizing Technology)设计做为高速传递架构。 IQxstream 并以足够的预备频宽，保有下一代 LTE 技术标准的升级弹性，且在台北、上海、东京、深圳、芝加哥及欧洲等地，均设有区域性的技术部门，更有效率地提供完善的测试技术支持。

此外， IQxstream 具备多项符合 LTE 测试的优势。首先是IQxstream 的 RF 频率范围为400~3000MHz，符合 698MHz~2.62GHz 的格要求。再者，测试设备至少具备20MHz的 VSA / VSG 频宽，并支持6通道设计。若要保有未来扩充性以进一步支持 LTE-Advanced ，频宽则须提高到100MHz。对于研发与制造单位的测试需求而言，内建精准的 MIMO 功能也不可或缺，且提供额外的 VSA / VSG连接埠，以供上、下行 MIMO 讯号传递的特殊应用。此外，并针对上、下行支持不同的传送组合，以及 FDD 与 TDD 两种传送模式。 FDD 与 TDD加起来的频带数需达到40个，FDD从1到17，频率小于2.7GHz;TDD频带则是33到40，频率需低于2.62GHz。

Non Signaling测试设计

事实上， IQxstream 所拥有的诸多特色，都是基于非信令(Non Signaling)模式而来。与Signaling模式相较，Non Signaling少了协议堆叠，不用再经过RF Channel，直接通过USB介面与控制端连结。因此，除了可有效地掌握测试错误外，还一并享有更高速的装置控制(USB 2.0,480Mbps vs RF,64Kbps) ，并能快速地配置装置与测试，降低变更装置组态所需的时间。

在Non Signaling的帮助下，不仅 DUT 测试时间比传统的Signaling模式减少一半，达到测试成本最佳化的目的。接着再搭配 Sequence Based Test 与 Multi- DUT ，则可分别缩短约25%与8.3%的测试时间。而对于Non Signaling模式在测量方式的匹配性上， LitePoint 开发出的测试平台能够完全等同于Signaling模式的量测。不仅如此，Non Signaling模式也具备足够的测试速度提升效果，当 IQxstream 加上 Sequence 与 Multi-DUT 后可提升速度达到3倍，连带测试软体也不会因为Non Signaling而变得复杂，比Signaling更为简单且迅速。

LitePoint期望藉由无线通讯测试设备的创新，提供最佳的测试方案，增进测试良率与效率，进而降低测试成本，以获得更高的产品利润。同时，协助工程师缩短通讯晶片产品的开发时程，更快地为消费者带来高品质的稀动装置。