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基于16位8通道DASAD7606的系统布局考虑
图4显示底层去耦配置,它用于四个AVCC引脚和VDRIVE引脚的去耦。使用多个过孔将引脚与其相应的去耦电容相连。AD7606器件周围去耦电容的对称布局有利于器件间的性能匹配。多个过孔用来将电容焊盘和引脚焊盘接地及接到电压平面和基准电压走线。
图4. 底层去耦,显示了四个AVCC引脚和VDRIVE引脚的去耦电容
16通道系统的通道间匹配
在高通道数系统中,良好的通道间和器件间性能匹配可以大大简化校准程序。AD7606器件、模拟输入通道和去耦电容的对称布局有助于多个器件之间的性能匹配。使用公共系统基准电压将能进一步增强系统的匹配性能。图5显示所有输入接地时,用于测量板上16个通道之间性能匹配的电路配置。还有最多7个码的分布直方图,各通道直方图的中心为码0,如图6所示。
图5. 用于测试16通道系统通道间匹配的电路示意图,该系统采用两个AD7606和外部基准电压源ADR421,所有输入接地
图6. 图5所示电路的直方图,显示了使用外部基准电压源ADR421的16通道系统的通道间匹配性能
AD7606内部基准电压源用作系统基准电压源
AD7606内置一个2.5 V基准电压源,经过内部放大,它可以为AD7606 ADC提供约4.5 V的缓冲基准电压。在通道间和器件间匹配性能至关重要的高通道数应用中,可以用一个AD7606的内部基准电压源为另一个AD7606器件提供基准电压。在此配置中,U1配置为在内部基准电压下工作,如图7所示。
图7. 用于测试一个AD7606通道间匹配的电路示意图,使用U1内部基准电压源
AD7606 U2器件可配置为在外部基准电压源模式下工作。U1 REFIN/RFOUT引脚提供的2.5 V基准电压路由至U2的REFIN/REFOUT引脚。一个10 μF去耦电容位于AD7606器件的REFIN/REFOUT引脚。在AD7606 U1和U2上,REFCAPA和REFCAPB引脚短接在一起,并通过一个10 μF陶瓷电容去耦至GND。
两个AD7606器件均以200 kSPS的采样速率工作,一个7.5 V直流信号施加于U1的V1和V2,如图7所示。码的直方图如图8所示。在同一器件的通道之间,平均输出码相差1.2个码。板上的所有16个通道以200 kSPS速率进行转换。
图8. 图7所示电路的直方图
7.5 V信号施加于U1的V1和U2的V1,板上的所有16个通道以200 kSPS速率工作,如图9的配置电路示意图所示。码的直方图如图10所示。在不同器件的V1通道之间,平均输出码相差1.4个码。
图9. 用于测试两个AD7606之间器件间匹配的电路示意图,U1内部基准电压源用作系统基准电压源
来源:21IC电子网