简化电源测试的SPST双极性功率开关

测试电路

图3–图5中顶部波形为数字输入，底部波形是通过一个0.25Ω电阻负载观察到的5µs脉冲波形，负载通过开关接50V电源。因为电压波形作用在一个低电感薄膜电阻，可近似表示开关的电流波形。图3所示近似200A的脉冲波形给出了过冲和上升时间(60ns至80ns)，上升时间受高边电流通道寄生电感、电容的影响。图4给出了该脉冲的上升时间和导通延时；图5给出了下降时间和断开时的传输延时。图6–图8给出了同样的波形，负载为5Ω，10A脉冲，电源电压为50V。上升时延接近于MOSFET固有的30ns至40ns的上升时延，受封装和源阻抗的限制。

图3. 图1测试结果，(1) 控制信号，(2) 在0.25Ω电阻两端测试的5µs脉冲，电源电压为50V。

图4. 基于图2的上升时间和导通传输延时，扫描速率为40ns/cm。

图5. 基于图2的下降时间和关断传输延时，扫描速率为40ns/cm。

图6. 图1测试结果，(1) 控制信号，(2) 在5Ω电阻两端测试的5µs脉冲，电源电压为50V。 

图7. 基于图6的上升时间和导通传输延时，扫描速率为40ns/cm。

图8. 基于图6的下降时间和关断传输延时，扫描速率为40ns/cm。

结论

本应用笔记介绍了一种SPST双极性电源开关的设计，用于电源测试。开关瞬变时能够承受较高的电流和电压，适用于当前市场上中等功率电源的测试。该电路可处理正、负极性的75V、200A瞬态信号；通、断时间在10纳秒以内；具有低等效电阻和低等效电感；能够以极低的输出对地电容提供浪涌隔离。