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TD-LTE技术及测量
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TD-LTE标准目前包括1.4、3、5、10、15和20MHz(与带宽可变的LTE FDD相同)RF通道的指标和测量方法。大多数测量方法和测量项目针对单个码道的数据定义,使用单独的发射和接收部分。关于多码道和MIMO的配置,仍在讨论中。最新的信息,访问www.3gpp.org并查询TS23.141文档的最新版本。
最初的测量目的是确保发射和接收不受损伤:包括上行和下行发射模板,最大和最小功率,功率控制。定义邻道泄漏和发射杂散用于确保最小的干扰。下图是发射打开/关断模板的例子。
发射模板
下一个系列的测量着重于传输质量,最主要的度量方法是EVM(error vector magnitude)。对于下行OFDMA,测量基于时域上的一个子帧(1ms)和频域上的12个子载波(180kHz)。上下限取决于调制复杂度,调制阶数越高,上下限越严格。对于来自UE的上行SC-FDMA信号,传输质量取决于已分配和未分配的资源块,需要分别测量通道内UE发射的频谱和其它带宽频谱。EVM和频谱平坦度用来说明已分配资源块的情况,带内泄漏和IQ 偏移(载波泄漏),这些降低网络性能的干扰信号详细说明未分配资源块的情况。
VSA 屏幕截图显示出上行数据特性
作者:安捷伦科技 刘迤 白瑛 来源:C114中国通信网