利用 ECal 检查校准系数的置信度

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概述

利用 ECal 模块，E5071C 允许您检验所获得的校准系数，以确定是否可以利用它们进行正确的测量。

E5071C 可以将 ECal 设置为用于检验测量参数的状态，然后将该检查状态的相应特性复制到来自 ECal 的内置存储器的存储迹线上。根据工作通道的工作迹线的测量参数执行此操作。在此指定状态下测量 ECal 时，可以将测量结果与利用 E5071C 所得结果，以及以几种不同方式存储在 ECal 中的相应测量结果进行比较。这些比较包括同时显示的数据和存储迹线，或显示数据和存储迹线之间的数学运算结果。这使您能在利用所获得校准系数时检验每个测量参数的测量正确性。

步骤

1. 在 ECal 模块的 USB 端口和 E5071C 的 USB 端口之间连接 USB 电缆。可以在 E5071C 的电源接通时进行此连接。

2. 使 ECal 模块预热 15 至 20 分钟，直至模块的指示从“WAIT”（等待）变为“READY”（就绪）。

3. 按“Channel Next”（下一通道）/“Channel Prev”（上一通道），选择要进行校准的通道。

4. 按“Meas”（测量）键。

5.  选择要检验的 S 参数。不能检验混合模 S 参数。

6. 将对应于选定 S 参数的 E5071C 的测试端口（例如，在 S 参数为 S21 时，测试端口为端口 1 和 2）与 ECal 模块的端口相连接。

7. 如果未利用 ECal 模块的所有端口，应将终端连接到未利用的端口。

8. 按“Cal”（校准）键。 

9. 单击“ECal”（电子校准）。

10. 对 ECal 使用适配器时，请单击“Characterization”（表征），然后按与用于所用适配器的表征相对应的功能键。

11. 单击“Confidence Check”（置信度检查）。

12. 比较数据迹线和存储迹线，并检验测量是否正确。

13. 以下是同时显示数据迹线和存储迹线时进行比较的步骤。

1. 按“Display”（显示）键。

2. 单击“Display”（显示）>“Data & Mem”（数据和存储）。

3. 按“Scale”（刻度）键。

4. 单击“Auto Scale”（自动定标）。

5. 确定迹线之间的差异是否可接受。

14. 对于所有要检验的参数重复此步骤。

ECal 模块的连接（对于 S21 检验）