外部测试装置模式

• 概述

• 使用外部测试装置模式功能示例

• 设置外部测试装置模式

• 校准和测量参数

概述

要评估高功率放大器，可能需要幅度大于 E5071C 的最大输出功率的激励信号。在此情况下，请通过配置外部测试装置执行传输/反射测量，而在配置外部测试装置时，应连接外部耦合器/桥接器，而不使用 E5071C 内置的 S 参数测试装置。

当想要使用 E5071C 达到此类目的时，请使用外部测试装置模式功能。

使用外部测试装置模式功能示例

为了将 E5071C 的放大的输出信号应用于 DUT，在用于 E5071C 的源的端口上连接了放大器。插入反向耦合器，以进行反射测量。插入正向耦合器，以将放大器的输出用作参考信号。该配置可校正由放大器引起的源失配误差。

要使用此配置测量 S21 和 S11，需选择“Mode 1”（模式 1）作为外部测试装置模式。

使用外部测试装置模式功能（模式 1）时的配置

设置外部测试装置模式

可以从三种类型中选择外部测试装置模式的状态：“OFF”（关闭）、“Mode 1”（模式 1）或“Mode 2”（模式 2）。

• 选择“OFF”（关闭）时，仪器相当于使用内置 4 端口 S 参数测试装置的网络分析仪。
  
  

• 选择“Mode 1”（模式 1）或“Mode 2”（模式 2）时，仪器相当于使用内置 2 端口 T/R 测试装置的网络分析仪。

1. Mode 1（模式 1）
   
   
   

2. Mode 2（模式 2）
   

设置步骤

请按照下面的步骤设置外部测试装置模式。

1. 按“System”（系统）>“Service Menu”（服务菜单）>“External Test Set”（外部测试装置）。

2. 选择所需的模式。

3. 当外部测试装置模式的设置改变时，将清除使用校准套件或 ECal 获取的校准系数，并且将关闭误差校正功能。

校准和测量参数

当外部测试装置模式（“Mode 1”（模式 1）或“Mode 2”（模式 2））和 E5071C 一起使用时，仅可以使用有限类型的校准和测量参数。

使用外部测试装置时的校准

当外部测试装置模式（“Mode 1”（模式 1）或“Mode 2”（模式 2））和 E5071C 一起使用时，可以使用以下校准。使用其他校准方法时，将不能执行正确的校准。

• 开路响应校准

• 短路响应校准

• 直通响应校准

• 增强的响应校准

• 1 端口校准

• 使用 ECal 时，如果选择“Mode 1”（模式 1）或“Mode 2”（模式 2），将不能自动检测测试端口 4 的连接。使用 4 端口 ECal 进行校准时，将根据测试端口 1/2/3 的连接设置端口 4 的连接。

测量参数

当外部测试装置模式（“Mode 1”（模式 1）或“Mode 2”（模式 2））和 E5071C 一起使用时，只能使用图 15-3 和图 15-4 中所示的 S11/S21 测量和绝对值测量。

选择“Mode 1”（模式 1）或“Mode 2”（模式 2）时，将不能使用夹具仿真器的平衡测量功能和频偏功能。