用于极限测试（迹线）(1)的状态寄存器

位的位置

名称

说明

0

迹线15, 16迹线测试总计（可疑极限通道{1-16}附加状态寄存器总计）

当可疑极限通道{1-16}附加状态事件寄存器中被启动位之一设定到“1”时，便设定到 “1”。

1

迹线1极限测试不合格

当测量周期开始时，设定到“0”；
当测量周期结束时，设定到“1”，并返回“fail”（不合格），作为迹线1的极限测试结果。

2

迹线2极限测试不合格

当测量周期开始时，设定到“0”；
当测量周期结束时，设定到“1”，并返回“fail”（不合格），作为迹线2的极限测试结果。

3

迹线3极限测试不合格

当测量周期开始时，设定到“0”；
当测量周期结束时，设定到“1”，并返回“fail”（不合格），作为迹线3的极限测试结果。

4

迹线4极限测试不合格

当测量周期开始时，设定到“0”；
当测量周期结束时，设定到“1”，并返回“fail”（不合格），作为迹线4的极限测试结果。

5

迹线5极限测试不合格

当测量周期开始时，设定到“0”；
当测量周期结束时，设定到“1”，并返回“fail”（不合格），作为迹线5的极限测试结果。

6

迹线6极限测试不合格

当测量周期开始时，设定到“0”；
当测量周期结束时，设定到“1”，并返回“fail”（不合格），作为迹线6的极限测试结果。

7

迹线7极限测试不合格

当测量周期开始时，设定到“0”；
当测量周期结束时，设定到“1”，并返回“fail”（不合格），作为迹线7的极限测试结果。

8

迹线8极限测试不合格

当测量周期开始时，设定到“0”；
当测量周期结束时，设定到“1”，并返回“fail”（不合格），作为迹线8的极限测试结果。

9

迹线9极限测试不合格

当测量周期开始时，设定到“0”；
当测量周期结束时，设定到“1”，并返回“fail”（不合格），作为迹线9的极限测试结果。

10

迹线10极限测试不合格

当测量周期开始时，设定到“0”；
当测量周期结束时，设定到“1”，并返回“fail”（不合格），作为迹线10的极限测试结果。

11

迹线11极限测试不合格

当测量周期开始时，设定到“0”；
当测量周期结束时，设定到“1”，并返回“fail”（不合格），作为迹线11的极限测试结果。

12

迹线12极限测试不合格

当测量周期开始时，设定到“0”；
当测量周期结束时，设定到“1”，并返回“fail”（不合格），作为迹线12的极限测试结果。

13

迹线13极限测试不合格

当测量周期开始时，设定到“0”；
当测量周期结束时，设定到“1”，并返回“fail”（不合格），作为迹线13的极限测试结果。

14

迹线14极限测试不合格

当测量周期开始时，设定到“0”；
当测量周期结束时，设定到“1”，并返回“fail”（不合格），作为迹线14的极限测试结果。

15

未利用

始终为0

位的位置

名称

说明

0

未利用

始终为0

1

迹线15极限测试不合格

当测量周期开始时，设定到“0”；
当测量周期结束时，设定到“1”，并返回“fail”（不合格），作为迹线15的极限测试结果。

2

迹线16极限测试不合格

当测量周期开始时，设定到“0”；
当测量周期结束时，设定到“1”，并返回“fail”（不合格），作为迹线16的极限测试结果。

3 - 15

未利用

始终为0