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用于波动极限(迹线)(1)的状态寄存器

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可疑波动极限通道{1-16}状态条件寄存器的状态位定义

位的位置

名称

说明

 

0

迹线15, 16波动测试总计(可疑波动极限通道{1-16}附加状态寄存器总计)

当可疑波动极限通道{1-16}附加状态事件寄存器中被启动位之一设定到“1”时,便设定到 “1”。

1

迹线1波动测试不合格

当测量周期开始时,设定到“0”;
当测量周期结束时,设定到“1”,并返回“fail”(不合格),作为迹线1的波动测试结果。

2

迹线2波动测试不合格

当测量周期开始时,设定到“0”;
当测量周期结束时,设定到“1”,并返回“fail”(不合格),作为迹线2的波动测试结果。

3

迹线3波动测试不合格

当测量周期开始时,设定到“0”;
当测量周期结束时,设定到“1”,并返回“fail”(不合格),作为迹线3的波动测试结果。

4

迹线4波动测试不合格

当测量周期开始时,设定到“0”;
当测量周期结束时,设定到“1”,并返回“fail”(不合格),作为迹线4的波动测试结果。

5

迹线5波动测试不合格

当测量周期开始时,设定到“0”;
当测量周期结束时,设定到“1”,并返回“fail”(不合格),作为迹线5的波动测试结果。

6

迹线6波动测试不合格

当测量周期开始时,设定到“0”;
当测量周期结束时,设定到“1”,并返回“fail”(不合格),作为迹线6的波动测试结果。

7

迹线7波动测试不合格

当测量周期开始时,设定到“0”;
当测量周期结束时,设定到“1”,并返回“fail”(不合格),作为迹线7的波动测试结果。

8

迹线8波动测试不合格

当测量周期开始时,设定到“0”;
当测量周期结束时,设定到“1”,并返回“fail”(不合格),作为迹线8的波动测试结果。

9

迹线9波动测试不合格

当测量周期开始时,设定到“0”;
当测量周期结束时,设定到“1”,并返回“fail”(不合格),作为迹线9的波动测试结果。

10

迹线10波动测试不合格

当测量周期开始时,设定到“0”;
当测量周期结束时,设定到“1”,并返回“fail”(不合格),作为迹线10的波动测试结果。

11

迹线11波动测试不合格

当测量周期开始时,设定到“0”;
当测量周期结束时,设定到“1”,并返回“fail”(不合格),作为迹线11的波动测试结果。

12

迹线12波动测试不合格

当测量周期开始时,设定到“0”;
当测量周期结束时,设定到“1”,并返回“fail”(不合格),作为迹线12的波动测试结果。

13

迹线13波动测试不合格

当测量周期开始时,设定到“0”;
当测量周期结束时,设定到“1”,并返回“fail”(不合格),作为迹线13的波动测试结果。

14

迹线14波动测试不合格

当测量周期开始时,设定到“0”;
当测量周期结束时,设定到“1”,并返回“fail”(不合格),作为迹线14的波动测试结果。

15

未利用

始终为0

 

发出*CLS命令将清除可疑波动极限通道{1-16}状态事件寄存器中的所有位。

 

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