安捷伦科技推出业界首款用于手机设计的DigRF V4端到端测量解决方案

新的测试解决方案涵盖数字域和射频域，可加快 LTE 和 WiMAX™
无线设备的开发

（北京，2008年11月13日），安捷伦科技公司（NYSE：A）日前推出业界首款数字射频（DigRF）V4 测试解决方案。它为射频集成电路（RF-IC）和基带 IC（BB-IC）的设计人员以及无线手机集成商提供全面的激励和分析能力。

DigRF V4 由 MIPI（移动行业处理器接口）联盟开发而成，是移动基带和射频芯片之间的一种高速数字串行总线，也是 LTE 和 WiMAX 的关键技术。

“交叉域”测试（例如 DigRF V4）可提供从单个数字比特到 IQ 调制射频信号的全新分析能力。安捷伦的测试解决方案支持工程师在所选的域（数字或射频）和抽象层（物理层或协议层）中进行测试，以快速表征 RF-IC ，解决交叉域集成问题。

安捷伦数字无线测试解决方案将 DigRF V4 激励和协议分析工具集成到了安捷伦最畅销的数字、射频和无线仪器中。新型 Agilent RDX（无线数字交叉域）测试仪包括两个全新模块，即 Agilent N5343A 试验器模块和 N5344A 分析模块，它们均安装在小型模块化 Agilent N2X 主机内。这种模块化结构设计可以支持未来的 MIMO 设计。

Agilent E5345A 和 E5346A 有源探测解决方案具有超低电容负载（小于 0.15 pF）和高灵敏度，能够在 DigRF V4 测试中以千兆位速度对系统进行深入分析，而且干扰最小。设计工程师可以选择采用软接触技术的新型 Agilent N5345A 中间总线探头来快速探测原型电路板，也可选择 B5346A 飞线探测解决方案在空间有限的设计中轻松监测 DigRF V4 链路。

该解决方案还支持 DigRF V4 和 V3 技术指标，因而可以