大尺寸LCD光学量测系统的建构及应用方案

来源：EDN China

量测／测试所面临之问题

欲建构LCD光学量测系统来检验面板品质，将面临的问题有：

1.建立一套量测系统可快速对面板上某一点之9点、13点、25点均齐度之Luminance(辉度)、CIE(色座标)、Chromaticity、VIEWANGLE、ContrastRatio、GrayScale/Gamma、ResponseTime、Flicker、Cross-talk和WarmUpTime进行量测。

2.整合视觉影像定位，自动量测面板各点之CIE及L(cd/m2)的变化相关函数。

3.符合真实控制者操作介面功能之人机介面。

4.建立自动输出判别是否合乎标准作业程序。

应用方案

LCD的光学特性在量测上须整合运动控制、影像自动定位、类比/数位讯号撷取、以及仪器通讯等复杂的项目，而市面上提供的软硬体环境必须具备亲切的使用者介面、开发时程短、易于安装与除错等特性。透过对市售产品的严格筛选与评比后，以美商国家仪器(NI)的提供的软硬体环境符合本公司的需求。特以LABVIEW7.1Express作为开发平台，软体环境搭配VisionAssistant7.1与ReportGenerationToolkit为主，在硬体环境上则使用NIUSB-6009、PCI-1407、PCI-6221。

文章摘要

有鉴于平面显示器的设计越来越迈向超大面板方向前进，光学量测设备的量测范围尺寸必定也需要朝向超大面板设计。光学特性的标准也不断提高，传统以人工检验品质的方式，不但耗费无谓的人工成本，且不论检测精密度及速度皆无法满足较大规模的生产要求。因此，先进的「电脑视觉定位系统」为不可或缺的，其具有测量准确、快速、扩展性强等特点，能快速针对客户需要的参数进行自动检测