• 易迪拓培训,专注于微波、射频、天线设计工程师的培养
首页 > 测试测量 > 技术文章 > 描述红外线测温仪的原理

描述红外线测温仪的原理

录入:edatop.com    点击:
  红外线测温仪

技术已发展到可对有热变化表面进行扫描测温,确定其温度分布图像,迅速检测出隐藏的温差,这就是红外线测温仪.红外线测温仪最先应用于军事上,美国TI公司19“年研制出世界上第一台红外扫描侦察系统。以后,红外热成像技术在西方国家陆续用于飞机、坦克、军舰和其他武器上,作为侦察目标的热瞄系统,大大提高了搜索、命中目标的能力。

  红外线测温仪原理

  黑体是一种理想化的辐射体,它吸收所有波长的辐射能量,没有能量的反射和透过,其表面的发射率为1。但是,自然界中存在的实际物体,几乎都不是黑体,为了弄清和获得红外辐射分布规律,在理论研究中必须选择合适的模型,这就是普朗克提出的体腔辐射的量子化振子模型,从而导出了普朗克黑体辐射的定律,即以波长表示的黑体光谱辐射度,这是一切红外辐射理论的出发点,故称黑体辐射定律。所有实际物体的辐射量除依赖于辐射波长及物体的温度之外,还与构成物体的材料种类、制备方法、热过程以及表面状态和环境条件等因素有关。因此,为使黑体辐射定律适用于所有实际物体,必须引入一个与材料性质及表面状态有关的比例系数,即发射率。该系数表示实际物体的热辐射与黑体辐射的接近程度,其值在零和小于1的数值之间。根据辐射定律,只要知道了材料的发射率,就知道了任何物体的红外辐射特性。影响发射率的主要因素在:材料种类、表面粗糙度、理化结构和材料厚度等。

点击浏览:矢量网络分析仪、频谱仪、示波器,使用操作培训教程

上一篇:谈谈数显绝缘电阻测试仪的工作原理及产品特点
下一篇:红外热像仪电气系统检查

微波射频测量操作培训课程详情>>
射频和天线工程师培训课程详情>>

  网站地图