• 易迪拓培训,专注于微波、射频、天线设计工程师的培养
首页 > 测试测量 > 技术文章 > 2GHz WCDMA终端设备射频测试介绍(六)

2GHz WCDMA终端设备射频测试介绍(六)

录入:edatop.com    点击:
WCDMA以及所有以频分多址(FDD)方式工作的终端设备一般都要考虑相邻和相近信道干扰情况。在WCDMA的相关规范中,邻道泄漏功率比测试对第一和第二相邻信道的相对功率电平做出了具体要求;另外几乎所有无线电收发信终端设备都要求针对传导杂散进行测试,此项测试主要考察在射频连接器(不经过天线)处,主板以传导方式发射出来的杂散信号,这些无用信号一般是由谐波发射、寄生发射和互调干扰引起。

本期摩尔实验室(MORLAB)就将继续为您介绍2GHz WCDMA终端设备射频测试之邻道泄漏功率比和杂散发射这两项测试。

(一)邻道泄漏功率比

邻信道泄漏功率比(ACLR)是用于衡量WCDMA终端的发射性能。其定义为主信道的发射功率与测得的相邻RF信道功率之比。该测试可以在综测仪(Agilent 8960或CMU200)上直接测量,一般要求测试对高(9887)、中(9750)、低(9613)三个信道进行测试。所有测试要求还需在极限条件下进行重复,包括高低温和高低电压的各种组合。

1.测试目的:

验证基于调制的UE的邻道泄露功率比(ACLR)值不超过标准要求,避免超过指标要求的ACLR会增加对其他信道或其他系统的干扰。

2.测试条件:

1)使用射频线将手机和系统模拟器连接,需要注意RF线的补偿。
2)按照通用呼叫建立过程建立一个呼叫;
3)将UE置于环回测试模式进行测试。

3.测试步骤:

1)设置连续上升TPC命令使得UE的输出功率达到最大;
2)用带宽为当前载频的匹配滤波器测试功率;
3)用根升余弦匹配滤波器测试第一和第二相邻信道的功率;
4)计算(3)测试值与(2)测试值的比值;

4.限值要求

5.测试结果举例:

(二)杂散发射

传导杂散发射测试一般需要在射频测试系统上进行,此项测试需要用到基站模拟器、频谱分析仪、主频陷波器、带通滤波器和衰减器等。单台综测仪是无法完成此项测试的。

该测试要求在常压和高、低电压下进行,测试信道仍为上述3个信道,这点与GSM相关规范有点区别,因为GSM终端只要求测试中间信道的传导杂散。测试时被测终端设备处于最大发射功率状态。

1.测试目的

验证UE杂散辐射值不超过标准要求,避免超过指标要求的杂散辐射增加对其他系统的干扰。

2.测试条件

1)按照下图建立UE天线连接器与系统模拟器的连接;

2)按照通用呼叫建立过程建立一个呼叫;

3)将UE置于回环测试模式下进行测试。

3.测试方法

1)设置设置连续上升TPC命令使得UE的输出功率达到最大;

2)在规定的频率范围上用频谱分析仪测试杂散的平均功率;

4.测试限值

5.测试结果举例

以上是摩尔实验室(MORLAB)关于WCDMA射频测试的邻道泄漏功率比和杂散发射两项测试的简单介绍,欢迎关注后续更多射频测试介绍。

点击浏览:矢量网络分析仪、频谱仪、示波器,使用操作培训教程

上一篇:蓝牙产品日本MIC认证(TELEC)测试简介
下一篇:腕表式手机FCC认证之SAR测试方法介绍

微波射频测量操作培训课程详情>>
射频和天线工程师培训课程详情>>

  网站地图