• 易迪拓培训,专注于微波、射频、天线设计工程师的培养
首页 > 测试测量 > 技术文章 > 浅析安捷伦非信令测试和LTE测试方案

浅析安捷伦非信令测试和LTE测试方案

录入:edatop.com    点击:

目前移动设备中的无线功能主要包括2G/3G/4G、蓝牙、Wi-Fi和GPS,而针对生产的测试需求,芯片组厂商在测试模式中添加了非信令功能以帮助生产测试节约时间。非信令测试中,待测设备(DUT)的芯片组在验证测试中会输出跨越不同功率和频率范围的各种信号,这些预定义发射的功能可以规范校准测试,缩减器件设置时间,进而缩减测试时间。

最新方案

在不久前召开的安捷伦测量测试大会上,安捷伦科技无线宽带事业部产品市场经理Michael Griffin详细介绍了该公司针对非信令测试的最新设备E6607BEXT无线通信测试仪和与之配套的E6617A MPA多端口适配器。“就无线功能测试需求而言,2003年全球5亿台设备,每个设备大概只有1项~2项测试,总计约7.5亿项测试。而到2015年,全球30亿台设备,每台约有6项~8项无线功能测试,总计达21亿项测试,如果按传统信令方法测试,耗时将增长28倍!”Griffin说,“EXT/MPA组合针对非信令测试进行了优化,适用于对当前和下一代包含多种制式和多个频段技术的智能电话和平板电脑进行生产测试,可提高测试吞吐量并降低测试成本。”

方案构成

E6607B是一款综合测试仪,内含矢量信号分析仪、矢量信号发生器、高速序列分析仪和多制式硬件。其中,序列分析仪可以与无线调制解调器芯片组的测试模式同步工作,消除信令开销,实现单次采集多次测量。Griffin强调,该设备是目前市面唯一的提供了高达3.8GHz的全蜂窝频段范围(包括LTE TDD 43频段),并支持最新芯片组中实施的快速序列测试模式。E6617A是与之配合的多端口适配器,该设备增添了同时接收机测试、顺序发射机测试和同时GPS测试,可一次性测试4个双天线设备。它是利用与EXT和完全校准端口(包括8个蜂窝端口、4个GPS端口)的即插即用连通性实现上述功能的,将测试平面扩展到MPA前面板。在初期的评测阶段,E6607B与E6617A的组合已经显示能够极大提升测量吞吐量,单台设备测试时间由17.4秒缩减至7.5秒,减少了约60%。

软件资源

EXT可以配置安捷伦的X系列测量应用软件,E6607B添加了三个最新附件:LTE TDD、TD-SCDMA和模拟解调。由于是通过软件模块的搭配实现不同的测试功能,E6607B有很高的灵活性可满足不同产线工位设置习惯的测试需求。另外,为了简化测试计划开发和加快批量制造速度,EXT还提供了软件工具,包括Signal Studio,可以创建非信令下行链路信号(控制和测试),以便与EXT配合使用;在试生产阶段,可使用Sequence Studio支持工程师快速创建测试计划并进行故障诊断;Chipset软件则提供了图形用户界面和编程接口,以支持设备控制、校准和验证等功能。

研发测试

不同于生产测试强调效率,研发测试更强调功能完备。安捷伦在8月份收购了西班牙的私人控股公司AT4 wireless,这一收购将帮助安捷伦扩展其在LTE和NFC/RFID 、蓝牙测试的研发测试方案的范围,包括验证和一致性测试。据安捷伦科技公司移动宽带事业部(MBO)研发类产品营销经理Akhilesh Daniel介绍,目前安捷伦最新的针对终端设备和运营商设备的LTE一致性测试平台分别是E6621A PXT和T4000S。“AT4 wireless测试系统业务有着长达17年的认证测试经验,能将系统设计和体系结构融合在一起,其测试平台在无线领域中得到了广泛应用,例如专业测试机构、芯片组制造商等。”Daniel说。

E6621A PXT针对LTE终端设备测试,在一台综合仪器中结合了灵活的基站/网络仿真和射频参数测试,易于使用,可进行符合实际情况的集成、验证和应用测试。E6621APXT配置了LTE TDD和FDD选件,可进行射频参数测量、功能测试、多个PDN、IPv6、IMS/SIP选件切换,拥有高达102.05Mbps的端到端IP数据测试,信令一致性测试和无线一致性测试方案。E6621A PXT可提供LTE至3G的切换,即将推出LTE至2G切换功能的设备。T4000S是原AT4 wireless针对运营商LTE设备研发的一套测试平台,包括T4010 DV(LTE RF设计验证)、T4010(LTE RF一致性测试)、T4020(RRM测试)和T4110(LTE协议测试)。

点击浏览:矢量网络分析仪、频谱仪、示波器,使用操作培训教程

上一篇:靶式流量计故障分析及排除方法
下一篇:热成像仪实现储槽和容器的液位测量

微波射频测量操作培训课程详情>>
射频和天线工程师培训课程详情>>

  网站地图