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物联网时代性价比最好的内存测试解决方案
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来源：厚翼科技
随着物联网时代的来临，我们不应该再注意手机或是任何移动式装置，而是应该注意新的需求。台湾要放手一搏扭转产业的机会是把握物联网，而不是专注于硬件开发，这并不意味着要放弃硬件，而是要学会掌握硬件可以发展的智能服务。台湾若继续做硬件，也许还是会有未来，但赢家又会是谁呢 因此不能只是看硬件，要看在这些平台上还有哪些应用还没被挖掘。
那么要如何创造出『万物联网』的价值呢？首先就是要让开发物联网的硬件的价格能够低廉到让许多『创客（Maker）』可以接受，让有兴趣开发物联网的智慧服务的『创客』，可以轻易的拿到相关的硬设备。所以，如何降低物联网相关芯片的价格，成为物联网商务模式一个值得探讨的课题。物联网芯片的硬件架构都需要嵌入式闪存（Embedded Flash; EFlash）来储存程序（Program）。所以EFlash的测试费用也会决定物联网芯片的开发成本，在这微利时代且锱铢必较的物联网开发平台上，成本将是关键，它会决定此物联网开发平台是否将会广泛被『创客』采用！
厚翼科技为目前全球唯一专注于开发内存测试解决方案的硅智财（Intellectual Property; IP）与整合性内存测试开发工具的供货商。而BIST (Built-In Self-Test) 是嵌入式内存测试的一种标准。过去几年来，内存的BIST需求，随着各种新兴市场包括物联网与车用电子的需求而日益增高，现今的内存测试解决方案需要支持各种型态的内存检测方案包括嵌入式闪存（Embedded Flash; EFlash）静态随机存取内存（Static Random Access Memory; SRAM）、动态随机存取内存（Dynamic Random Access Memory; DRAM）等。
厚翼科技在内存测试的解决方案中拥有许多专利，基于特有的内存测试专利，厚翼科技开发出嵌入式闪存的测试解决方案（EFlash BIST）。EFlash BIST将传统的BIST架构做了很大的变革，EFlash BIST充分利用硬件架构分享 (Hardware Sharing) 的设计来达到优化的面积和测试时间。EFlash BIST是一个客制化的IP，厚翼科技的研发团队，针对客户所用的EFlash与所需要的测试项目开发出专属的EFlash BIST IP。此客制化的EFlash BIST IP将可以大幅度的缩短EFlash的测试时间。
传统的EFlash测试方案可以直接使用自动化测试机台（Automation Test Equipment; ATE）或是使用EFlash的供货商提供的BIST。采用ATE做EFlash的测试，由于测试时间过长，导致测试费用太高，相当不符合物联网开发平台对于费用的要求。然而，采用EFlash供货商提供的BIST方案，对于使用者而言，非常难以在短时间内将BIST电路与EFlash做整合（图一），导致整个物联网芯片的开发时间过长。
图一：传统的EFlash BIST的实现流程
基于以上两点使用上的不便之处，厚翼科技将传统的EFlash BIST的实现流程简化如下（图二）。
图二：厚翼科技的EFlash BIST的实现流程
随着物联网时代的来临，我们不应该再注意手机或是任何移动式装置，而是应该注意新的需求。台湾要放手一搏扭转产业的机会是把握物联网，而不是专注于硬件开发，这并不意味着要放弃硬件，而是要学会掌握硬件可以发展的智能服务。台湾若继续做硬件，也许还是会有未来，但赢家又会是谁呢 因此不能只是看硬件，要看在这些平台上还有哪些应用还没被挖掘。
那么要如何创造出『万物联网』的价值呢？首先就是要让开发物联网的硬件的价格能够低廉到让许多『创客（Maker）』可以接受，让有兴趣开发物联网的智慧服务的『创客』，可以轻易的拿到相关的硬设备。所以，如何降低物联网相关芯片的价格，成为物联网商务模式一个值得探讨的课题。物联网芯片的硬件架构都需要嵌入式闪存（Embedded Flash; EFlash）来储存程序（Program）。所以EFlash的测试费用也会决定物联网芯片的开发成本，在这微利时代且锱铢必较的物联网开发平台上，成本将是关键，它会决定此物联网开发平台是否将会广泛被『创客』采用！
厚翼科技为目前全球唯一专注于开发内存测试解决方案的硅智财（Intellectual Property; IP）与整合性内存测试开发工具的供货商。而BIST (Built-In Self-Test) 是嵌入式内存测试的一种标准。过去几年来，内存的BIST需求，随着各种新兴市场包括物联网与车用电子的需求而日益增高，现今的内存测试解决方案需要支持各种型态的内存检测方案包括嵌入式闪存（Embedded Flash; EFlash）静态随机存取内存（Static Random Access Memory; SRAM）、动态随机存取内存（Dynamic Random Access Memory; DRAM）等。
厚翼科技在内存测试的解决方案中拥有许多专利，基于特有的内存测试专利，厚翼科技开发出嵌入式闪存的测试解决方案（EFlash BIST）。EFlash BIST将传统的BIST架构做了很大的变革，EFlash BIST充分利用硬件架构分享 (Hardware Sharing) 的设计来达到优化的面积和测试时间。EFlash BIST是一个客制化的IP，厚翼科技的研发团队，针对客户所用的EFlash与所需要的测试项目开发出专属的EFlash BIST IP。此客制化的EFlash BIST IP将可以大幅度的缩短EFlash的测试时间。
传统的EFlash测试方案可以直接使用自动化测试机台（Automation Test Equipment; ATE）或是使用EFlash的供货商提供的BIST。采用ATE做EFlash的测试，由于测试时间过长，导致测试费用太高，相当不符合物联网开发平台对于费用的要求。然而，采用EFlash供货商提供的BIST方案，对于使用者而言，非常难以在短时间内将BIST电路与EFlash做整合（图一），导致整个物联网芯片的开发时间过长。
图一：传统的EFlash BIST的实现流程
基于以上两点使用上的不便之处，厚翼科技将传统的EFlash BIST的实现流程简化如下（图二）。
图二：厚翼科技的EFlash BIST的实现流程
