泰克推出PCI Express 3.0 Tx、Rx测试套件

    中国 北京，2012年11月7日 –全球示波器市场的领导厂商---泰克公司日前宣布，推出业内针对PCI Express 3.0标准的，最灵活和最完整的自动化发射器 (Tx) 和接收器 (Rx) 一致性与调试测试解决方案。通过对BERTScope误码率分析仪系列的新产品增强以及PCI Express测试软件，泰克现在可以为集成电路、主机和板卡设计人员提供一站式PCI Express 3.0测试解决方案。

    PCI Express的每一代推出，都使得其变得更快和更复杂。在8 Gb/s的速度，PCI Express 3.0测试涉及复杂的Rx压力条件作用 (stress conditioning)，BER一致性测试以及大量Tx一致性测试。另外，设计失败时的调试还需要完全测试支持。凭借最新更新，泰克现在提供对PCI Express 3.0的物理层测试自动化与调试的业内最全面支持。

    “PCIe3测试的许多方面——如链路训练和Tx均衡检测——都非常复杂，对工程师提出了极大的挑战”，泰克高性能示波器总经理Brian Reich表示，“通过提供强大的自动化功能集，我们使复杂的PCIe3测试变得容易完成，同时确保得到更一致的结果。这意味着漫长而复杂的测试——如压力眼图校准、发射器一致性测试等——都将成为简单很多的工作了。”
 
    对于PCIe3 Rx测试，PCI-SIG测试规格要求的压力码型生成是自动化的，现在包括对时钟倍频和眼图张开测试的综合支持。另外，DUT环回控制也是自动化的，这简化了测试过程，减少了得到测试结果的时间。支持这些功能的增强包括新DPP125C——其向压力码型添加了预加重，带可变ISI的新BSAITS125集成式干扰合并器，以及新BSAPCI3自动校准、环回和链路训练软件。构成复杂Rx解决方案的其他组成部分包括一个用于共模干扰测试的泰克AFG3000任意波形/函数发生器和基于世界级CR286A系列时钟恢复单元的PLL环路带宽解决方案。BERTScope的这些补充部分消除了对第三方插件 (add-on) 的需要。

    对于PCIe3 Tx测试，泰克通过将用于一致性测试的PCI-SIG SigTest实用软件直接包括进其泰克DSA70000系列数字示波器上的TekExpress自动化框架增强了其解决方案。通过这一集成，更新后的PCE3软件自动化了SigTest测试的测试仪器与DUT控制、码型验证、数据采集及分析，并允许对多项SigTest结果进行定制报告。PCE3软件还在一致性测试失败时提供向调试的无缝转变。

    如欲了解面向PCI Express 3.0的Tx和Rx测试的全系列泰克电气一致性、调试和验证解决方案（包括一个30分钟概要视频），请访问： http://www.tek.com/technology/pci-express 。

    供货信息
    泰克PCI Express 3.0 Tx、Rx测试与调试解决方案现已全球供货。

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