泰克2015创新论坛 演绎工业4.0时代的测试测量

    2015年5月20日,泰克2015年度创新论坛TIF(北京站)顺利举行。本届TIF聚焦大数据和工业4.0时代的测试测量技术,用十多个热点专题与与会者深度探讨工业4.0时代将带来的测试测量挑战与应对之道。

    泰克公司大中华区市场总监徐赟表示:“工业4.0时代的到来为新一轮的设计和测试测量技术带来了革新与挑战。作为测试测量行业的先锋,泰克将以创新的解决方案帮助工程师更加高效地解决工业4.0核心技术互联互通的测试问题。”

    徐赟指出,智能和互联互通是工业4.0的两大核心引擎。智能互联时代推动了无线技术、高带宽、高能源效率、多媒体高清显示等技术的迅速,这就诞生了更多的测试测量的新需求和新挑战。这些需求和挑战,同样推动着测试测量行业的进一步发展。

工业4.0给测试测量带来的机遇与挑战

    在TIF现场,泰克演示了USB3.1验证与测试、功率测量、电源分析与测量、射频测试等多项测试测量解决方案,充分展示了测试测量行业先锋的底蕴与魅力。

    同时,泰科公司还推出了其划时代的DPO70000SX系列示波器。DPO70000SX 70GHz ATI高性能示波器在信号保真度和通道扩充能力方面确立了全新的行业标准,它采用了超高性能70GHz异步时序交织(ATI)结构和紧凑的示波器封装,提供了极低的噪声和极高的信号保真度。

    DPO70000SX既可作为单通道系统操作,提供70GHz带宽及200 GS/s实时采样率,适用于RF和光应用、脉冲式激光器研究及类似的高能物理应用;也可作为双通道系统操作,每条通道提供33GHz、100GS/s,适用于企业高速串行应用及要求差分信号输入的其他应用。