全新NI PXI开关为规模化测试延长射频测试系统寿命并提高速度

美国国家仪器公司（National Instruments, 简称NI）近日发布新的NI PXI/PXIe-2543固态射频多路复用器，为工程师提供了一个长期高效的解决方案来对高达6.6GHz的射频信号的路由进行优化。相较传统的机电开关解决方案，NI PXI/PXIe-2543的固态构架能够实现更加快速的开关以及多次重复测量。

感言：

 “新的NIPXI/PXIe-2543固态开关是基于行业领先的NI PXI平台的成功经验构建而成，其固态架构为射频应用提供了高速度和可靠性。”美国国家仪器有限公司测试市场总监Charles Schroeder如是说道，“使用这个开关，自动化测试领域的工程师可以整合并同步许多PXI仪器，包括射频发生器和分析仪，从而最大化测试系统的投入产出比并能够进一步提高精确度和吞吐量。”
 

产品特性

针对于高密度射频开关的6.6GHz双4x1多路复用器，适用于多站测试

采用固态架构，延长了开关的使用寿命

所有通道都使用了50 Ohm终端，提高射频性能

整合PXI触发以进行快速可重复的测量

访问相关资源，了解更多关于NI PXI/PXIe-2543以及其他NI开关,请访问http://www.ni.com/rf/zhs/

关于NI

自1976年以来，美国国家仪器，简称NI(www.ni.com）一直致力于为工程师和科学家提供各种工具来提高效率、加速创新和探索。NI的图形化系统设计方法为工程界提供了集成式的软硬件平台,有助于加速测量和控制系统的开发。长期以来，NI一直期望并努力通过自身的技术来改善社会的发展，确保客户、员工、供应商及股东获得成功。