泰克TLA6000系列逻辑分析仪推出新选件，简化DDR2 测试

　　全球领先的测试、测量和监测仪器提供商--泰克公司日前宣布，推出完整的 DDR2 协议调试和验证解决方案，基于屡获奖项的 TLA6000 系列逻辑分析仪。TLA6000 系列新选件包含了嵌入式工程师——即使并非DDR2专家——用来验证和调试设计中存储子系统性能所需的各项工具。
　
　　DDR2 存储系统广泛用于当前大量嵌入式设计——通常用作微处理器总线或 FPGA 中的模块。DDR2 协议的复杂性以及大量命令/数据/地址信号，既难以直观地了解总线工作情况，也很难隔离潜在的问题。此外，设计人员必须保证信号定时和接口符合 JEDEC 标准。TLA6000 系列新增的 DDR2 选件以更为经济的价格提供了更加完整、易用的 DDR2 测试解决方案，满足新兴需求。
　
　　“这些选件可显著提高工程师验证和调试嵌入式设计中 DDR2 的工作效率，同时这些功能集成在我们的中端逻辑分析仪中奖有效帮助降低成本，”，泰克公司逻辑分析仪产品线总监 Dave Farrell 先生表示，“由于内置软件可将捕获的原始数据转换为有意义的 DDR2 总线事务视图，自动发现并报告与协议不相符的情况，因此哪怕用户不是 DDR2 专家，也同样可以取得专家级的调试结果。”
　
　　TLA6000 系列新选件含有用来查看地址、数据和控制信号的一系列工具，包括：
　　•内存芯片夹具（Memory chip interposers）便于探测嵌入式 DDR 存储器，不必设计探测接入点。这些内存芯片夹具（Memory chip interposers）配合 TLA6000独特的iCapture 模拟复用器 (Analog Mux)，可为逻辑分析仪与示波器提供单一探测解决方案，节省时间并最小化设置的复杂性。 
　　•协议解码软件显示所有 DDR2 事务，并具有 DDR2 事件触发功能。
　　•采样点分析软件自动完成 TLA6000 正确配置过程，对 DDR2 信号进行精确采样。
　　•协议冲突软件发现并报告违背 JEDEC 定义的 DDR2 协议的情况。
　
　　Nexus Technology 公司总裁 Rob Shelsky 表示：“这种 DDR2 解决方案为调试和验证工程师提供快速、精确的分析功能。结合泰克逻辑分析仪深存储、强大的触发和跨总线相关功能，这些新的 TLA6000 选件为工程师调试和验证嵌入式存储器提供了业内最佳工具。”
　
供货信息
　　最新 TLA6000 系列 DDR2 选件将于2011年4月起在全球供货。
　
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