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光缆线路障碍的查找与处理
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摘要 本文结合实际分析了光缆线路障碍的原因与特点,并论述了查找与处理对策。
关键词 光缆线路 障碍 查找处理
OTDR(光时域反射仪)是维护中测试光缆障碍的主要工具,它是根据瑞利散射的原理工作的,通过采集后向散射信号曲线来分析各点的情况。菲涅尔反射是瑞利散射的特例,它是在光纤的折射率突变时出现了特殊现象。在光缆障碍的测试中,菲涅尔反射峰的高低对障碍点的判定起着不可低估的作用。另外建立健全各项维护资料也是快速处理光缆障碍的基础,如标石距离对照表、接头纤长记录、维护图等。目前,国内一、二级线路的维护等级要求高,资料一般较全。C3本地网以下光缆线路维护资料较少,一旦发生复杂的隐蔽性障碍,处理较为困难,但它的影响面较小。
(1)部分系统阻断障碍
如果障碍是某一系统障碍,在排除设备故障的前提下,精确调整OTDR仪表的折射率、脉宽和波长,使之与被测纤芯的参数相同,尽可能减少测试误差。将测出的距离信息与维护资料核对看障碍点是否在接头处。若通过OTDR曲线观察障碍点有明显的菲涅尔反射峰,与资料核对和某一接头距离相近,可初步判断为盒内光纤障碍(光纤盒内断裂多为镜面性断裂,有较大的菲涅尔反射峰)。修复人员到现场后可先与机房人员配合进一步进行判断,然后进行处理。若障碍点与接头距离相差较大,则为缆内障碍。这类障碍隐蔽性较强,如果定位不准,盲目查找就可能造成不必要的人力和物力的浪费,如直埋光缆大量土方开挖,架空光缆摘挂大量的挂钩等,延长障碍历时。可采用如下方式精确判定障碍点。
用OTDR仪表精确测试障碍点至邻近接头点的相对距离(纤长),将测试的纤长换算成光缆长度(皮长)。再将光缆皮长换算成障碍点的成长尺码,即可精确定位障碍点位置。具体算法如下
1)纤长换算成皮长
La=(S1-S2)/(1+P)
式中La为光缆皮长;S1为测试的相对距离长度;S2为光缆接头盒内的单侧盘留长度,一般取0.6-1.0
;P为该光缆的绞缩率,因光缆结构不同而异。可用同型号的备用光缆进行测试。也有的厂家提供该项指标。P=(Sa-Sb)/Sb,Sa为单盘光缆的测试纤长;Sb为单盘光缆标记的皮长尺码长度。
2)光缆障碍点皮长尺码的计算
Ly=Lb±La
式中:Ly为障碍点的皮长尺码值;Lb为邻近接头点的盒根光缆皮长尺码,+、-符号的选择可以根据光缆的布放端别确定。
确定了Ly的值,即可根据资料确定障碍点的具体位置。采用这种方法可以减少由于工程资料不准,仪表和光纤的折射率偏差等原因造成的测试误差,避免长距离核算光缆长度,测试结果较为准确。实距证明这种方法简单有效。
(2)光缆全阻障碍
对于光缆线路全阻障碍,查找较为容易,一般为外力影响所致。可利用OTDR测出障碍点与局(站)间的距离,结合维护资料,确定障碍点的地理位置,指挥巡线人员沿光缆路由查看是否有建设施工,架空光缆是否有明显的拉伤、火灾等,一般可找到障碍点。若无法找到就需要用上面介绍的方法进行精确计算,确定障碍点。
(3)光纤衰耗过大造成的障碍
用OTDR测试系统障碍纤芯,如果发现障碍是衰耗空变引起的,可基本判定障碍点位于某接头出处,多是由于弯曲损耗造成的。盒内余留光纤盘留不当或热缩管脱落等形成小圈,使余纤的曲率半径过小。另外,接头盒进水也造成接头处障碍的主要原因。打开接头盒后,可进一步进行判断,将一要正常纤芯绕在手指上,使其曲率半径过小,此时用OTDR测试(1550nm)该处会有一大衰耗点,若该衰耗点与障碍光纤衰耗位置一致,则障碍点即为该点。可仔细查看障碍光纤有无损伤或盘小圈,若有小圈将其放大即可,否则进行重接处理。
(4)机房线路终端障碍
如果障碍发生在终端机房内,此时在障碍端测试,OTDR仪表净化不出规整曲线,在对端测试可以发现障碍纤芯测试曲线正常。为精确定位,需要加一段能避开仪表盲区的尾纤,一般长度不少于500m,先精确测出尾纤长度,再接入障碍光纤测试。
OTDR在短距离测试状态下分辨率很高,可以比较准确地测出是跳纤还是终端盒内障碍。对于离终端较近的盒内障碍用可见光源进行辅助判断更为方便,距离的远近取决于光源的发射功率,有的光源可以达到20km。
由以上分析可见,光缆障碍产生的原因很多,除外力影响以外,接头处的障碍比例也较大。这就需要除在维护中加以宣传保护外,施工中也要严格要求,符合操作规程。如余纤盘留规整,热缩管固定牢用,接头盒密封要严密等。
随着光缆线路的大量应用,不可预见性障碍的机率将相对加大,障碍的动工是多种多样的,这就需要我们加强维护,建立一套完整、齐全、准确的维护资料,并且在实践中不断地总结经验,才能迅速地查找和处理各种障碍。
摘自《电信科学》2001.第4期
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