借助EMI扫描验证芯片设计，缩短上市时间

EMI近场辐射特性：SSCG示例

某一大型半导体厂商在解串器的并行总线上实现了SSCG功能。SSCG功能能够通过将辐射峰值能量扩展到更宽的频带上来减少辐射。如下面的图1所示，频率变化发生在额定时钟中心频率(中心扩频调制)附近，扩展的频谱为正或负1.0%(fdev)。在接收器并行总线端，输出以千赫兹(fmod)的调制速率随时间调制时钟频率和数据频谱。定制的串行解串器芯片组的目标客户是要求所安装电子设备具有低EMI辐射特性的汽车厂商。

图1：扩频时钟功能。

该公司期望用令人信服的量化证据来向汽车厂商说明SSCG功能可以有效降低EMI辐射。为了实现这个目标，设计团队首先在SSCG功能为“关”的情况下将待测器件(DUT)放其内部扫描仪上，加电，然后在PC中捕获辐射特性。为了进行有效的对比，在打开SSCG功能的情况下，对同一待测器件进行了扫描。

极近场扫描系统完成了空间和频谱扫描后显示并生成了以下辐射特性图。需注意的是，扫描结果叠加在Gerber设计文件上，因此这样对结果进行分析可以立即确定待测器件中的具体辐射体。图2显示了SSCG功能为“关”时待测器件的辐射特性。

图2：SSCG功能为“关”时测得的EMI辐射特性。

图3为SSCG功能为“开”时待测设备辐射的空间和频谱(幅度与频率)特性。通过对比，可以发现辐射已经显著减少。

图3：SSCG功能为“开”时的EMI辐射特性 。

对测试结果进行比较之后，设计团队发现由于使用了SSCG功能导致电磁辐射显著减少。汽车电子工程师最大的挑战在于减少EMI辐射。客户支持团队每次向汽车厂商客户展示这些结果时，他们普遍都表现出了极大的兴趣。任何降低EMI的功能(此案例中为SSCG功能)都可以缩短上市时间、降低屏蔽和成本支出。