集成电路的电磁兼容测试浅谈

第六部分：传导发射测量方法――磁场探头法

图六 磁场探头法测试示意图

磁场探头法是通过测试PCB板导线上的电流来评定集成电路的电磁发射。芯片引脚通过PCB板上的导线与电源或外围电路相连，因而它产生的射频电流可用一个靠近的磁场探头获取，由电磁感应定律，探头输出端的电压正比于导线上的射频电流。磁场探头的结构细节和推荐尺寸在标准中有详细描述，测试示意图如下所示：

集成电路电磁抗扰度测试方法――IEC62132

第一部分：通用条件和定义

为了评定芯片的抗扰度性能，需要一个易于实现且可复现的测试方法。芯片的抗扰度可分为辐射抗扰度和传导抗扰度，需要得到集成电路发生故障时的射频功率大小。抗扰度测试将集成电路工作的性能状态分为五个等级，测试时，连续波和调幅波测试要分别进行，调制方式也是采用1kHz 80％调制深度的峰值电平恒定调幅，这些要求都与汽车零部件的抗扰度测试标准ISO11452相似。

第二部分：辐射抗扰度测量方法―― TEM小室法

图七 TEM小室法法辐射抗扰度测试示意图

IEC61967-2中的TEM小室也可以用来进行抗扰度的测试，小室一端将接收机换成信号源和功放，小室另一端接适当的匹配负载。在小室中建立起来的TEM波与远场的TEM波非常类似，因而适合用来进行电磁抗扰度的测试。此外，为了实时地监视集成电路的工作状态，还需要配套的状态监视设备。测试示意图如下：

第三部分：传导抗扰度测量方法――大量电流注入法(BCI) 　

图八 BCI测试示意图

本方法是对连接到集成电路引脚的单根线缆或线束注入干扰功率，通过注入探头被测电缆由于感性耦合而产生干扰电流，此电流的大小可由另一个电流探头测出。这种方法其实是由汽车电子抗扰度测试发展而来的,可参见ISO11452-4，测试示意图如下所示：

第四部分：传导抗扰度测量方法――直接射频功率注入法(DPI)

图九 DPI测试示意图

与BCI方法采用感性注入相对应，DPI方法采用容性注入。射频信号直接注入在芯片单只引脚或一组引脚上，耦合电容同时起到了隔直的作用，避免了直流电压直接加在功放的输出端，测试示意图如下所示：