LTE发射机ACLR性能测量的方法与挑战

在LTE等数字通信系统中，发射信号泄漏到邻近信道的功率可能会对邻近信道中的信号传输产生干扰，进而影响系统性能。相邻信道泄漏功率比（ACLR）测试可以验证系统发射机的工作性能是否符合规定的限制。鉴于LTE技术的复杂性，快速和精确地执行这种关键测试对于测试人员来说充满挑战性。装有LTE特定信号生成软件的信号发生器、装有LTE特定测量软件的现代化信号分析仪，以及针对该分析仪优化的方法，可以帮助测试人员战胜这一挑战。

LTE发射机设计的复杂问题

由于LTE性能目标设立得非常高，工程师们必须精心地进行设计折中，以便在无线发射机链路的各个关键部分实现最佳平衡。LTE发射机设计的一个重要方面是最大限度减少无效发射，特别是可能在任何频率上产生的杂散发射。虽然LTE类似于其它无线系统，但由于在频段边缘发射信号必须符合严格的功率泄露要求，因此还是遇到了挑战，。LTE支持最大20 MHz的信道带宽，但许多频段太窄，无法支持太多的信道，因此大部分LTE信道都处于频段的边缘。

控制发射机在频段边缘的性能需要设计滤波功能，以便在不影响信道内性能的情况下滤除带外发射。诸如成本、功率效率、物理体积以及在发射机方框图中的位置等指标也都是重要的考虑因素。最后，LTE发射机必须满足针对无效发射的所有指定限制，包括对泄露到邻近信道的功率量（ACLR）的限制。