通常以典型方式测试“典型值”

为帮助理解，我们举一个常见的例子。以下内容是不同IC制造商各种数据资料中的一般规则。

除非另有说明，按照电气特性一般条件的规定测试最小值和最大值。表达方式可能为：“TA = TMIN至TMAX，除非另有说明。典型值为TA = +25℃时的值。”这意味着环境温度(TA)等于工作温度列出的最小和最大温度，除非制造商另有说明。典型值仅为TA = +25℃时的值。随后有注释，常见的有：

注1：所有器件在+25℃条件下 100%经过生产测试，所列出的TA = TMIN至TMAX条件由设计保证。

注2：在GND+20mV和AVDD-20mV之内进行线性度测试，允许存在增益和失调误差。

注3：高于2047的编码保证在±8 LSB(最低有效位)之内。

注4：在GND+100mV和AVDD-100mV之内进行增益和失调测试。

注5：设计保证。

注1和注5的末尾说明“由设计保证”。这句话意味深长。所有IC制造(fab)工艺都存在变化。由于元件和多层都非常小，几乎任何因素都会引起变化。这些偏差属于正常的变化范围。

我们将借用MAX5134至MAX5137数据资料的部分内容(图1)解释这些注释。

图1. 摘自MAX5134至Ma x5137数/模转换器(DAC)系列数据资料。

注1意味着无论数据资料中之前所述的温度是多少，仅在室温(+25℃)下测试统计精度。其它工作温度范围则由“设计保证”涵盖。(我们将对此进行简要介绍)。

注2和注4常见于满摆幅运算放大器和缓冲输出DAC。注意输出电压范围的计算条件为“空载”。这是因为所谓的满摆幅工作，坦白讲，是一厢情愿。这并不完美，但却远远优于较早的器件，这些器件的输出电路在输出电流时会偏离电源电压。

注3常见于DAC。当编码低于接近底部(通常为地)的某个数及高于接近顶部电压轨的某个数时，其线性度低于中间编码。这里，总编码为65,536，底部编码2047的INL(积分非线性)为±10 LSB；高于2047时，INL仅为±8 LSB。