通常以典型方式测试“典型值”

“这是猜谜语吗？”您会问。当然不是。这个标题听起来像是一种循环，真正的循环逻辑，但它说明了一个问题。典型值(typ)往往是集成电路(IC)测试中最容易误解的词，可以用其它词来说明其概念：代表性、象征性、一般、正常、标准、主流、平均、中等、惯常。糊涂了？在IC世界中，典型值通常定义为具有器件组的特性。好吧，但就像老话说的那样，这真是“拐弯抹角”。我告诉您一个IC测试的小花招。IC数据资料中的“典型值”意味着未经测试。秘密被揭穿了！那么IC制造商为什么要费劲地给出典型值呢？我来解释一下。

典型值与变化范围

IC典型值是统计值，所以不能直接测试得到。例如，就好比说成人的平均身高为5英尺5英寸。测量任何单个人都不能确定中等、平均或典型身高。人类学家可测量每种人种的身高或者以统计方式测量人口样本，然后统计学家在已知样本量的情况下可计算得到平均值的置信度。IC的统计过程与此相同。IC设计者可根据模拟测试结果以统计方式预测典型值。同样，对典型值进行平均，为电路设计者提供一般指导。

IC数据资料列出的技术指标通常有以下几类：

●绝对最大值意味着不得超过该值，否则器件可能损坏。

●电气特性是一般测试条件，除非另有说明。

●最小值(min)、典型值(typ)和最大值(max)指标为规定单位和条件下的测量值。注意，“条件”是对“除非另有说明”的补充。

●注释变更、限制和声明被测项目及测试方法。