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一种基于GPIB 扑慊并行口的SoC自动化测试方案
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通过相关的GPIB接口总线对设备的控制指令控制频谱仪，可以使频谱的捕捉在4秒钟内完成，整个测试流程在1分钟内完成，有效地节约了测试时间。在多片测试中，测试员启动批处理文件就可以完成快速测试流程。对比传统测试方案，该方案不需要反复更换测试仪器探头及调试测试仪器，只需要更换开关电源及待测芯片即可。
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