理解传统眼 参数测量的局限

传统眼高算法和受ISI影响眼图的估算

传统眼高算法如下所示，该算法通过寻找高低电平直方图平均值确定高低电平，并使用他们的3sigma电压确定眼高。

EyeHeight=OneLevel–ZeroLevel–3σOneLevel–3σZeroLevel

当直方图产生不准确的1和0水平，或当3sigma不是正确的度量推算分布到眼图中心，该算法将失败。

对于图1中的眼图

OneLevel=188.2mV（如眼图1电平参数所示）

ZeroLevel=-188.1mV（如眼图0电平参数所示）

σ，OneLevel=55.2mV（右侧直方图的标准偏差）

σ，ZeroLevel=55.1mV（左侧直方图的标准偏差）

对比眼图电平，检查公式中的值，可以很快发现上述公式会导致一个不准确的结果，眼图外边缘的1电平值与0电平值与+/-300mV差异很大。而且从图中可以明显发现1sigma55mV是不合理的。

由此推算得到的眼高如下：

EyeHeight（mV）=188.2-（-188.1）-3*55.1-3*55.2=45.4mV

（上面数值和图片中眼图参数表中的值（43.9mv）之间的差异是由于眼高计算中确定Sigma使用不同的分级造成的，是可以忽略的），我们得到一个对描述眼张开度没有帮助的结果。我们所得的结论就是传统的眼高算法是有缺陷的，不应该被用来确定受ISI影响的电眼图的张开度。

因此，"正确的"眼高是多大？

现在我们看到不能用传统眼高参数来描述眼图张开度，我们重现回到计算公式上，图3显示用光标量到的眼张开度是157mv，但是这个值是使用主观性很强的光标测量到的，而不是来自重复、客观的算法。

考虑正确的眼高是多少，必须注意到眼图闭合度会随着你用来计算眼图的UI数量的增加而增加。因为随机抖动是无边界的，会影响眼图的张开度。当用来计算眼图的UI数量增大1000倍时，上图中选择的光标位置就会不同。所以在做眼张开度测量时，工程师必须考虑采集多少数据来形成眼图。通常，我们尝试理解眼图闭合度和误码率的函数关系。这个问题在抖动分析领域已经得到解答，常用的双狄拉克模型被用来外推特定的误码率下的抖动，像10E-12.在描述眼高时也需要相似的方法，下面我们介绍这样一个方法。