湿度环境下关于薄膜电阻的稳定性测试

结论

-偏置湿度可以是破坏性的，即便满足了标准（AEC-Q200）的官方要求。

-独立的85 / 85或HAST测试只适用于评估耐潮能力的相对比较，对推测所研究的薄膜电阻系统没有帮助。两种测试都可能是破坏性的。

-对环境里达到非破坏性的漂移水平的暴露时间进行标准化，用于新的预测模型。

-分配蒸汽压力，直接读取允许的暴露或加速因子上的信息，就可以产生一个简单实用的预测工具。

-公开的模型（如Lawson）不适用于薄膜电阻，也不使用通用方法和与湿度加速有关的问题。

-相对湿度是一个描述实际吸附率的重要参数，在试验研究里其影响无疑是可度量的。其他作者根据rh依赖度设计出模型，在一些使用模塑或功能材料的特定情况下已经被采纳。因此他们的结果模型一定是不同，并且只有在不变的模塑材料和功能层的激活能情况下才有效。他们没有考虑到重要的各个扩散情况和系统的氧化特性。

-我们的模型遵从与扩散有关的系统特性，如本文所讨论的涂层材料的实际密封特性。

-像85 / 85或HAST测试的标准要求可以用客观数据对实际应用需求和器件使用条件进行评估；

-模型和ln√t– 1 / T图的描述是从对薄膜电阻的试验研究推导的，将会形成广泛影响，被转换用于所有模塑或涂漆的有热或湿度有关降级效应和健康预测的有源和无源元器件。