- 易迪拓培训,专注于微波、射频、天线设计工程师的培养
NFC测试技术和机卡接口测试技术研讨会
开始时间:2014-12-10 结束时间:2014-12-10 地点:深圳
COMPRION每年都会在深圳测试技术研讨会。今年(2014年)我们的研讨会的日期是2014年12月10日在金茂深圳JW万豪酒店。
今年会议的主要话题是LTE机卡接口,NFC和手机支付以及 EMV, 卡测试等。
会议涉及
-测试规范状况更新
GSMA/SIMalliance
Global Platform/ETSI SCP
-NFC ISO DEP和NFC DEP的协议探讨
-LLCP/SNEP协议探讨
-NDEF和RTD协议探讨
-NFC Test Book的规范状态和实施以及Open Mobile API的测试
-NFC射频性能测试
-IC USB测试初探
会议具体议程
09:30 Registration
10:00 Siodata Introduction
10:05 Status Standardization 2014 (GSMA/GTI/SIMalliance/Global Platform/ETSI SCP)
10:15 ISO-DEP and NFC-DEP
(Protocol basics)
10:30 LLCP and SNEP
(Protocol basics)
10:45 Coffee / Tea Break
11:00 NDEF and RTD
(Format basics)
11:10 NFC Testbook Status Overview
11:25 Open Mobile API
11:45 Buffet Lunch
13:15 NFC Analog Testing Robot Solution
13:30 Device Test Center in Future
13:40 IC-USB
(Basics)
14:00 Coffee / Tea Break
14:15 IT3 SIMLink for AT&T Testing
14:30 Questioning and Answering
(Specific Questions to COMPRION Products:
Technical Support; Sales Information; Feature Requests; etc. )
15:00 End of Workshop
欢迎您和您们的合作伙伴参见。
如果有机会参加麻烦您尽快和我邮件确认参加的公司和人数。
Organised by:北京兴奥德泰科技有限公司
Please contact Mr. Yu at (886) 1370 1200 412 or Email to yam.yu@siodata.com.cn FREE seats with us. For more
information you might browse siodata.com.cn or comprion.com