NFC测试技术和机卡接口测试技术研讨会

　　开始时间：2014-12-10 结束时间：2014-12-10 地点：深圳

　　COMPRION每年都会在深圳测试技术研讨会。今年(2014年)我们的研讨会的日期是2014年12月10日在金茂深圳JW万豪酒店。

　　今年会议的主要话题是LTE机卡接口，NFC和手机支付以及 EMV, 卡测试等。

　　会议涉及

　　-测试规范状况更新

　　GSMA/SIMalliance

　　Global Platform/ETSI SCP

　　-NFC ISO DEP和NFC DEP的协议探讨

　　-LLCP/SNEP协议探讨

　　-NDEF和RTD协议探讨

　　-NFC Test Book的规范状态和实施以及Open Mobile API的测试

　　-NFC射频性能测试

　　-IC USB测试初探

　　会议具体议程

　　09:30 Registration

　　10:00 Siodata Introduction

　　10:05 Status Standardization 2014 (GSMA/GTI/SIMalliance/Global Platform/ETSI SCP)

　　10:15 ISO-DEP and NFC-DEP

　　(Protocol basics)

　　10:30 LLCP and SNEP

　　(Protocol basics)

　　10:45 Coffee / Tea Break

　　11:00 NDEF and RTD

　　(Format basics)

　　11:10 NFC Testbook Status Overview

　　11:25 Open Mobile API

　　11:45 Buffet Lunch

　　13:15 NFC Analog Testing Robot Solution

　　13:30 Device Test Center in Future

　　13:40 IC-USB

　　(Basics)

　　14:00 Coffee / Tea Break

　　14:15 IT3 SIMLink for AT&T Testing

　　14:30 Questioning and Answering

　　(Specific Questions to COMPRION Products:

　　Technical Support; Sales Information; Feature Requests; etc. )

　　15:00 End of Workshop

　　欢迎您和您们的合作伙伴参见。

　　如果有机会参加麻烦您尽快和我邮件确认参加的公司和人数。

　　Organised by:北京兴奥德泰科技有限公司

　　Please contact Mr. Yu at (886) 1370 1200 412 or Email to yam.yu@siodata.com.cn FREE seats with us. For more

　　information you might browse siodata.com.cn or comprion.com