noise figure测量,需要把芯片屏蔽起来吗?
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大家好,这几天用Vector Signal Analyzer 测试RF芯片的NF(没有Noise Figure
Analyzer),没有在屏蔽室里,也没有用屏蔽盒把芯片屏蔽起来,测试输出噪底的时候,
noise往上抖得厉害,下面显示的噪底数值一直在变化(即便采用了average),我就取了
一个变化中相对小的值作为输出噪底,这对吗?大家测量的时候,都会加屏蔽吗?用VSA测
量NF,怎么样才可以让测试结果更精确?
多谢
Analyzer),没有在屏蔽室里,也没有用屏蔽盒把芯片屏蔽起来,测试输出噪底的时候,
noise往上抖得厉害,下面显示的噪底数值一直在变化(即便采用了average),我就取了
一个变化中相对小的值作为输出噪底,这对吗?大家测量的时候,都会加屏蔽吗?用VSA测
量NF,怎么样才可以让测试结果更精确?
多谢
网友回复:
如果是在2.45G测量,很容易受环境影响。
在LNA后面再加一级放大器,应该有帮助。
网友回复:
屏蔽室里肯定更好不假
你用增益法测量?增益法只适合于NF大的测量
最好用Y-factor法测量,有噪声源吧?
网友回复:
恩,增益法
以前看slides上说,RBW调小的时候,VBW自动会设,不用人为调整
结果网上查了一番,VBW要调小一些。但实际上当我把仪器RBW调小时,VBW并没有跟着变,
现在我把VBW调小到RBW的1/10,噪底的抖动很小了,时而有干扰的时候出现一根tone,在
没有tone出现的时候读出噪底,跟设计的结果差别不是很大了
多谢
网友回复:
做的是SOC,所以也没法在LNA后面加amp。。。
不过话说回来,干扰在天线那里已经发生了,LNA后面再加放大器,怎么会减小干扰呢?
网友回复:
最好还是屏蔽室里面测比较好
因为PCB还有cable的外皮之类的很容易变成小天线
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