专为广谱应用基于硅的光纤

FBPI光纤的UV抗日晒性

石英光纤易受UV诱发的衰减影响。长期暴露在UV辐射 (俗称日晒) 下所诱发的损伤会导致传输损耗。大多数衰减发生在小于250 nm的波长内，而峰值损伤发生在214 nm上，损伤的程度根据光纤的类型而有很大的不同。下图3显示了新FBPI光纤的UV照射性能与UV中使用的其它光纤的比较。

日晒抗性 (solarization resistance) 采用被称为“四小时UV照射测试”来评测，此测试使用2m段光纤。光从高强度氘灯发射到光纤内，并使用聚焦透镜来使214 nm上(通常对UV日晒最为敏感的波长)的强度最大化，使用Ocean Optics的UV光谱仪来监控测试样品的输出，并收集四个小时的数据。

在整个测试过程中跟踪六个重要的波长(214、229、245、255、266和330 nm)，同时也测量整个光谱，并在测试的开始和结束时进行比较。随着测试的进行，每个波长的性能下降速率在减小，在理想情况下，在四小时测试结束前达到饱和点。在UV光纤中，能够快速饱和，而且性能下降最少的是最理想的品质。饱和下的性能下降程度大多数与光强度无关，增加强度往往仅改变达到饱和的速度。

图3：四小时UV照射测试设置

四小时UV照射测试的结果如下图4所示。此图也显示了通常在UV区域中使用的其它光纤的数据，以方便比较。标准高-OH FVP光纤，通常在可见光/UV应用中使用，如图5所示。从特殊预制品中提取专为UV性能优化的UVM光纤的数据，如图6所示。最后，为深度UV工作而优化具有高辐射抗性的FDP光纤的数据，如图7所示。

图4：新FBPI光纤的四小时UV照射测试

图5：标准高-OH FVP光纤的四小时UV照射测试

图6：针对UV优化的UVM光纤的四小时UV照射测试

图7：深度UV FDP光纤的四小时UV照射测试

测试结果评测表明，新的宽波段FBPI光纤显着改进了日晒性能，超过了标准高-OH FVP光纤，同时可与UV优化的UVM光纤媲美。