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微波暗箱反射率电平分析测量
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1 概述
无线电工程师极力寻求一个无线电引信辐射的电磁波，它可以自由地向四面八方辐射而没有任何反射干扰，换句话说，就是极力寻求一个在实验室条件下，能够提供一个为无线电引信工作的自由空间。
无回波吸收室的出现 满足了这类工程研究的需要。这类无回波吸收室是指用无线电波吸收材料构成内壁的房间。利用这种特殊的墙壁使得入射的电磁波被最大限度的吸收，最小限度的反射，并且在室内的某一部分空间能构成一个接近"自由空间条件"的无回波区域。
无回波吸收室用途是相当广泛的，几乎所有的无线电参数的测试工作都可在无回波吸收室内进行，比如天线特性测试、雷达截面测试、整机系统灵敏度测试等各种各样的模拟试验，各种飞机、导弹、人造卫星上的无线电设备也都可以在无回波吸收室内进行综合试验。
2 吸收材料的性能分析
无回波吸收材料，顾名思义，就是用来吸收电磁波能量的，像黑色颜料吸收光线一样。在通常情况下，要产生明显的吸收作用，吸收体至少需要有1/4波长的厚度。
吸收体的吸收性能可以这样理解，当一个电磁波碰到某物体表面时，电磁波的一部分能量要被反射回去，一部分能量要穿过边界传到第二媒介里，这些进入物质表面的电磁波通过各种途径穿透媒介并在物质表面的另一边变成辐射能，电磁波的强度变弱了；而没有穿透过去的那部分电磁波能量就被吸收了。因此要达到理想吸收电磁波，首先，吸收材料应能尽量使入射到材料表面的电磁波透入，即进入到吸收材料里边去，使电磁波反射达到最小。其次，若使电磁波全部进入吸收材料内，要求电磁波入射线要垂直吸收材料的表面。再次，透入到吸收材料里的电磁波能量应能有效地把入射的电磁能量全部吸收。由此可见，暗室的性能（如反射率电平的大小）关键取决于所使用的吸收材料，通常所使用的吸收材料为角锥状，其形状如图（1）：
但是实际的天线具有方向性，为此必须对公式（6）进行修正，即天线位于φ角接收到的入射场比φ=0°时的入射场低AdB，在φ方向，驻波曲线极大值与极小值dB数之差为：
统主要由发射信号源（69347B）、接收机（MS2667C频谱分析仪）、计算机及接收天线和测试支架组成，见框图（7）。其中信号源为发射天线输出一个微波直射信号，由频谱分析仪接收来自各方向的反射及直射信号，并由计算机读出后描绘出一个空间驻波曲线，并计算出反射率电平。天线支架用来控制测试天线的上下、左右直线移动及转角姿态的变化动作。为了能比较准确地描绘出空间行程驻波曲线，天线移动的行程距离必须大于等于两个波长。最后通过改变接收天线取向角以获得若干条驻波曲线，从而达到测试小圆柱型微波暗箱反射率电平的目的。
（2）测试过程
依据"VSWR"法的特点，我们将接收天线安装在测试支架上，使天线处于暗箱中心轴线上，并距离后壁尖劈为15cm处，分别改变天线与中心轴的夹角来进行反射率电平的测试。
（3）天线测试状态的确定
这里我们仅选择垂直极化状态进行测试，其次考虑到被测箱体的限制，在测试位置上仅选取一点，即接收天线距离后壁尖劈为15cm处，俯仰角为±20°，±35°时，接收天线上下移动2-4个波长。由于暗箱为圆柱体，因此可通过转动暗箱来实现对暗箱内壁任意一点反射性能的测试，而暗箱后壁的反射性能受测试条件的局限而无法进行测量，故暂不考虑。
（4）Z向（垂直向）的测试
Z向的测试是接收天线离后壁尖劈15cm处，以箱体轴线作垂直向的上下移动，其上下移动的高度为±3λ（±9cm），天线的取向角为±20°，±35°，在这些点上测出若干条干涉曲线。垂直向的测试主要是测量暗箱上下尖劈对电磁波的反射情况。
在0°时，接收天线所获取的曲线（数值）为Z向场幅度的均匀性。通过由频谱仪测得的曲线，求出其最大电平变化值（Δab），及曲线的平均值（Ai）以得到天线在该取向角θ时的方向图电平值。
（5）将微波暗箱旋转至所需要的角度φi，重复（3）、（4）步骤，测出暗箱其余内壁的反射率电平。以下是我们对802所编号为6CH-6W2的暗箱采用以上方法进行测试，测试数据如下：
表（1）：接收天线作上下移动时电平的变化值测试频率：10.125GHz，接收天线距离暗箱中心轴5cm处定义为移动的起始位置，接收天线分别取俯仰角+20°、-20°。
方位角+20°-20°方向图电平值A(dB)1010最大电平变化值Δ（dB）0.640.62总的反射率电平值R（dB）-38.7-39.0
从以上测试数据中可以看出，被测小圆柱型微波暗箱在所选频率上用以上方法测量其反射率电平均优于设计所要求的-30dB的技术指标。
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