一个器件的高频集总参数与接地导体的位置貌似有关系呀？
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我用HFSS简单算了一下，一个器件的电抗在距离接地导体距离不同的位置，得到的曲线不尽相同，是不是就是因为接地导体的问题呢？
那么在实际的测试仪器上，如何选择接地导体的位置呢？
那么在实际的测试仪器上，如何选择接地导体的位置呢？
我是用Y(1,1)来求算器件全阻抗的，但是发现接地导体的大小，位置不同，计算出来的全阻抗的曲线就不尽相同。
请问，微波器件的全阻抗这一类的集总参数是不唯一，还是我的计算方法中又不确定的地方呢？大侠指点啊。
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