怎样利用史密斯圆图调驻波？

对于微带天线调试，困扰了我很久了。总是希望通过一次性仿真，制成成品后各向指标都通过，但是实际上往往不能尽如人意，不是频带偏移，带宽不够，就是驻波不行。当然他们之间也是存在关系的。
现在的我还只是简单的知道史密斯原图走向代表的意义，串电感、电容，并电感电容。在调试天线的时候人手相当于什么？触摸在贴片上，触摸在介质上，离贴片有一段距离。有时候人手触摸变好了，又需要怎样的形式施加到天线上面。
请有经验的人谈一谈，怎样利用史密斯原图调驻波，或者就是怎样调试微带天线。

 

实际调试时不会把手放在天线上，在天线pattern不做大的变动的前提下，调试两种办法：1.调匹配电路，smith chart 上半部呈感性，下半部呈容性，第一象限时串电容，第四象限时串电感，第三象限时并电容，第四象限时并电感，使尽量靠近50Ω阻抗；调高频时并电容串电感，调低频并电感串电容。2.fine-tune天线本体，加长或者剪短路径调频率，亏点位置，接地方式,还有周围环境和走线的互相耦合作用...都会影响驻波，视情况处理，得多试。

 

看来你的带宽指标是用驻波比来衡量。试试其他相对介电常数的板材，要么在成品上用笔刀割一割，对着失网调试调试，看看哪些是关键的结构参数，逆向解剖一下。有的案例，仿真还是蛮准的。更多是通过仿真怎么调哦。

 

是的。我通过驻波比来衡量带宽。天线整体形式是不能改变的，但可以在原来的基础上改变，长度，宽度，缝隙宽度，长度。但是仿真的时候改变一个参量，并不是线性变化的啊。对于版主说的有的案例，请上传资料吧，谢谢了。

 

实际调试时不会把手放在天线上，在天线pattern不做大的变动的前提下，调试两种办法：1.调匹配电路，smith chart 上半部呈感性，下半部呈容性，第一象限时串电容，第四象限时串电感，第三象限时并电容，第四象限时并电感，使尽量靠近50Ω阻抗；调高频时并电容串电感，调低频并电感串电容。2.fine-tune天线本体，加长或者剪短路径调频率，亏点位置，接地方式,还有周围环境和走线的互相耦合作用...都会影响驻波，视情况处理，得多试。

 

来学习的，看看各位大神的见解

 

实际应用中，有些老手会把手放上去通过手介入查看不同位置的变化，然后剪接铜箔贴上去。比仿真适用。

 

不太会吧，多数做法是用一金属棒啥的探探，手太大了，都不知道具体影响何处

 

使用电容电感器件进行阻抗匹配，在史密斯图上的可以遵循下面四个规则：
- 沿着恒电阻圆顺时针走表示增加串联电感；
- 沿着恒电阻圆逆时针走表示增加串联电容；
- 沿着恒电导圆顺时针走表示增加并联电容；
- 沿着恒电导圆逆时针走表示增加并联电感。

 

我们这调分米波天线的时候是用手的

 

学习了谢谢你的分析，我也正在学习这个

申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。如需专业解答，请学习本站推出的微波射频专业培训课程。