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阵列天线中的互耦问题

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想问的是,阵列天线由多个源进行馈电,不同的馈电端口之间肯定会产生有一定的互耦,那么这种互耦会不会影响单个辐射单元本来的方向图。也就是说,单个辐射单元的方向图主要由贴片结构决定,而互耦的影响主要体现在输入端的幅度和相位上。这种理解对吗?麻烦各位多多建议

 

我觉得应该这样理解:对于单个天线,你所谓的结构没有变是只考虑它自身,这个自身结构的方向图严格地说也是指在自由空间中,其周围的环境肯定会影响它的方向图的,比如:你在测量天线时,周围有没有人活动,尽管天线的结构也没有变,测出的结果肯定是不同的,这点你如果测过天线,应该能感觉到的。

 

应该会影响的。

 

阵列天线的互耦是存在的!

 

为什么呢?麻烦具体说明一下。
因为我觉得单个天线的方向图主要是受结构的影响,既然结构没变,那么就应该没有太大的变化啊。

 

恩,对的,互耦肯定是存在的,想知道的是这种互耦会不会改变原来单个辐射单元的方向图。

 

恩,有点意思。

 

在天线周围有金属存在,离天线又很近的情况下,对天线方向图的影响很明显。

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