阵列天线中的互耦问题
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想问的是，阵列天线由多个源进行馈电，不同的馈电端口之间肯定会产生有一定的互耦，那么这种互耦会不会影响单个辐射单元本来的方向图。也就是说，单个辐射单元的方向图主要由贴片结构决定，而互耦的影响主要体现在输入端的幅度和相位上。这种理解对吗？麻烦各位多多建议
我觉得应该这样理解：对于单个天线，你所谓的结构没有变是只考虑它自身，这个自身结构的方向图严格地说也是指在自由空间中，其周围的环境肯定会影响它的方向图的，比如：你在测量天线时，周围有没有人活动，尽管天线的结构也没有变，测出的结果肯定是不同的，这点你如果测过天线，应该能感觉到的。
应该会影响的。
阵列天线的互耦是存在的！
为什么呢？麻烦具体说明一下。
因为我觉得单个天线的方向图主要是受结构的影响，既然结构没变，那么就应该没有太大的变化啊。
恩，对的，互耦肯定是存在的，想知道的是这种互耦会不会改变原来单个辐射单元的方向图。
恩，有点意思。
在天线周围有金属存在，离天线又很近的情况下，对天线方向图的影响很明显。
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