失配仿真
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mismatch中的global variation是不是指整个wafer上的die的良品率，而local variation是指一个die中的指定管子的不匹配。还有mismatch是不是指在指定process的mismatch，比如说MC指得是在TT下的失配，ff_mis指的是在FF下的失配，以FF的极限值为均值的高斯分布?
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