DFT设计讨论
录入：edatop.com 阅读：
芯片设计时，Design for Test应该考虑那些
进入DFT的条件必须有一定的复杂度 避免客户意外进入DFT模式
有点意思，也就是DFT不能影响正常工作，造成误触发的话可能会造成芯片出错
exactly. nomally we can pull a pin to -1V by connecting 2 diodes in series.
instead of forcing -1V, sinking currently out of the pin is feasible where in certain case, it's more stable especially data collection at low temperature.
DMF可测试性
申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。如需专业解答，请学习本站推出的微波射频专业培训课程。
上一篇：相位噪声的问题~~~
下一篇：进行LVS仿真时总是出错
