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有用 nwell to substrate cap as decoupling cap?

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向有工程经验的问一句:
刚想起ibm 65nm design manual 里有句话:"large area of capacitance used as decoupling must use n-well to substrate capacitance".
请问有经验的人,真有很多人用nwell-to-substrate cap 做decap 的吗? 这样做的serial resistance 岂不会很大?与其这样还不如把decap做在pcb上。
我想对于>100MHz 或者 >1GHz 的decoupling, 都是用thick-oxide MOS 吧。

在芯片上加decap优势主要有:片上电容能高速100M上MOS翻转对电源供电的补偿,减少局部区域电弹和地弹,外部接decap是经过了很长的RC网络是不可能实现高速补偿的,MOS的工作是就近取电,片上加还是不够
,跟好的效果是高速MOS翻转附近有deccap,这样的decap是最有效的。否则加大再多起不了作用,是一种浪费。

没错,
所以说这nwell-to-substrate decoupling cap 是没多大用的了?
需要on-chip decoupling,就用thick-oxide mos?



    那ibm为什么说must呢,是不是大面积的栅电容做不到,天线效应比较严重什么的,所以才用阱衬底电容?
    可能ibm不是从性能而是工艺角度考虑的

没玩过65n,等真相。



   你得到了他,大面积的栅电容肯定是不准许的

请问,用nwell-to-substrate cap 时,有什么需要注意的地方吗?
有验证过这种方法的牛人,指点一下吧。

在应用nwell-to-substrate cap时,有什么注意的地方吗?
请验证过这种结构的牛人,指点一下吧。

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