CDR的测试问题
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请问CDR测试时，仪器产生的输入数据能否直接输入到芯片内部，要不要考虑芯片IO Pad能承受的最高数据率（或最高频率）的数据，输出测试也是?是否需要在芯片内部设计测试电路?
请问比如10Gbps的PRBS输入数据，能否直接通过芯片pad输入到芯片内部电路里?
因为担心输入数据率较高，可能会有较大衰减，是否需要先并行输入到芯片内部，然后在芯片里面做个Mux串行化?
當然都要考慮在內呀
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