射频开关如何测试？

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譬如SP8T的开关，本身控制和射频端口比较多，在片测试时，bonding wire的长度为了减小一些，会把pcb上的走线距离芯片近一些，但是CPWG走线必然不能很好的排布开来。这就导致开关的性能下降，差损恶化。选用CPWG走线是为了让共面波导距离地平面的距离更近一些，线宽也就可以更窄一些。
仪器校准可以去除这些非理想因素，不知道各位大侠一般是否用仪器校准，用那种校准方法更好一些，（频段为L波段）
特别是对于多输入输出的，每个端口都要做校准吗，是否是太浪费了?
而且用ＳＯＬＴ校准出来，用同样的校准件，用了三台ＶＮＡ，结果都不一样，偏差在０．５～１ｄＢ之间。