一个老问题，hspice里面怎么设置温度随时间变化？

这都可以……排队等解答.

你还是拿到片子后把它放到探针台上去吧，随便啥温度曲线都能烧了

不知道，应该不能吧。

好像是没这个功能，温度变化只能作DC扫描。
可以给synopsys提建议，强烈建议他们将这个功能加到transient仿真中去。

把 temp 放到電阻內做跑 tran 隨時間變 resistor macro model ..
Like
rsh='10*(1+sin(time))'
x1 n00 0 rp1 l=2000u w=2u m=1
r1 avdd n00 10k
vss gnd 0 0
v11 avdd 0 pwl(0,0 50m,5)
  
.tran 500u 12
.probe tran i(r1) v(n00)

rsh 會隨時間變 sine .時間是以 "sec"  ..這很長的單位
..

sorry ..我知道樓上是希望 temp 隨時間變
GLOBAL 方式不知道
但單一元件是可以得 ..
電阻隨時間變.. 不知能否套到隨時間變溫度 ?


不過不知道Verilo A 有沒辦法做更簡單方式 ?

非常感谢！

   非常感谢，这样就有点思路了。

有些CHIP  bug是溫度變化過程才會
溫度穩定下不會
烤箱拷高溫不會這很難DEBUG
hspice 沒法用 tran 去跑溫度  global
但單一元件或許可把 temper ,  time 帶入

我印象中gray小组2000年做数字calibration的pipeline那本书里就有温度变化对calibration影响的仿真与实验，他们是怎么仿的呢?

bujie,不解

试试看

nicer

谁各知道，也遇见类似问题

我也很想知道
看來沒有答案

申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。如需专业解答，请学习本站推出的微波射频专业培训课程。