首页 > 微波/射频 > RFIC设计学习交流 > mom电容值的提取和测试

mom电容值的提取和测试

录入:edatop.com    阅读:

小弟通过版图画了一个mom小电容(非库里电容),想知道各位大大谁能通过calibre的寄生提取出这个电容值吗?还有,如果流片的话,有什么好的方法测量流出来的实际值的方法吗?

都睡了吗?为什么没反应啊?

继续顶啊,哪位大神有解决的办法吗?

看来是沉了

这有什么好说的呢
就用calibre extract parasitic cap呗,就是不太准而已

有专门测电容的电表..

多小的?
几ff 以下,精确测量的方法可以拿博士了


你仿照着库里的电容自己画一个,然后calibre一下,你会发现和库里的电容差数量级的~



   几个fF到十几个fF。能给个思路也可以啊。只要测量出大体值就可以了。

用测电容的仪器来量。
要注意寄生电容。
你关心是绝对值还是相对值。绝对值你就并个N个,看总电容。相对值,就做个dac 或者adc 测DNL/INL好了



我抽过,没发现差这么多,呵呵


大神啊,怎么测量的?给个详细点的流程呗?我如果在一个器件的后面挂一个电容的话,LVS不过,如果原理图加上这个电容的话,提取出来的寄生根本不包括这个电容。你是怎么做的呢?

呵呵,这个不是挺容易的啊
首先做LVS/PEX肯定是要有电路和netlist的,要不都跑不起来
那么就用最简单的器件,比如电阻,版图上接在你画的MOM cap两头,这个cap是寄生,在电路中不需要
然后只extract C+CC就能看到两个电阻节点的CC,就是你的MOM cap了
不过有时候因为 extract rules肯定没有foundry提供的model精确,曾经抽出parasitic cap是model 3倍,哈哈



    我最初也是这么干的,但是LVS的时候不过,提示说版图和原理图器件数目不符合啊。
   然后,我尝试把MOM电容的标示层(MOMDMY,不知道是否真的只是简单的标示而没有任何物理意义),再跑PEX的时候,LVS能过了,但是提取出来的电容基本上扩大了6倍左右--->--->---->---->
   
   你是怎么做到通过LVS验证的呢?

当然要把MOM cap flatten了,不所有CAD layer都删掉,只剩metal
作LVS 只把这些当作连线而不是device,sechmatic里面也不用画这个parasitic device,LVS 就会过
至于你extract出6倍,可能是用的rule的问题
tsmc的也会有问题,不能用LVS rule开 option,而要一个专门的pex rule
反正我试过好几个,结果不一样的

差6倍?差数量级?没这么夸张吧。以前经常用自己的mom电容,要这么不准,电路不知道跑哪里去了。

做的时候有两种方法。一是自己加标示层,把mom当标准器件提,这涉及自己写些rule,但是好处是电路不用改,foundry都这么做。另一种是把mom当寄生,但是lvs时需要屏蔽自己网表中的cap,做后仿同样。



自己写pex rule,根本不会,45度角仰视中。     我用的是smic 65nm,伤不起啊。  谢谢你耐心的指导。



    明天回实验室尝试自己修改rule,但是有个问题,自己写rule的话,需要提前知道自己画的小电容的值吗?能给个流程或者您修改过的rule吗?感激不尽。我用的基本上就是您说的第二种方法,但是不知道是不是工艺的原因,提取出来的值就是很夸张。因为smic65nm工艺库里只给了mom电容,并且最小还是30fF,根本n不能用来做sar adc,所以尝试自己做小电容。希望您能帮忙指导一下如何写rule。



    大神还在吗?

不要沉啊,大挽尊术

直接用Calibre提取,精度还是可以接受,一两倍的误差最多了。一般可以做到误差50%以内。



    我自己没写过,是我们的layout工程师负责的。现在我不负责这块了,也没法给你找出layout是怎么改的。不过smic 65nm是直接支持mom的,只是他的rule是按照他的layout做的,你可以仿照他的rule试着修改一下。这样难度就小多了。另外如果这种方法,是需要事先抽取一个标准大小的layout,然后用面积去乘,和当寄生提取,应该是有差异的(没有考虑边缘效应)



    也就是说还是需要知道修改后(自己画的)电容的大小,然后去修改rule。但是,calibre的提取误差太大了,在65nm工艺下面,偏离的太厉害了(除非是momdmy这层是有实际物理意义的),所以,无解。
   Anyway, thanks very much for your help.



    恩,130nm工艺的下面的mim电容值用calibre的提取确实蛮准的,你试试smic 65nm工艺下面的mom电容

这个用calibre是不行的,要用EM仿真器,比如ansoft



    mim和mom的提取机制不一样,mim算本征器件,mom如果工艺厂不支持,只能当寄生提取。
不知道能否分享一下mom实际与提取的差异具体数据?因为除非工艺厂或者做RF的非常在意,会专门去做比较,做普通电路的很少会为这个去测试片上电容。


从原理上说,你说的工具好比器件物理里的medici,calibre好比仿真时的spice。calibre的底层算法应该就是根据场仿真器的结果进行分段拟合。所以有误差是必然的,关键是误差有多少。



    我就是想用电容来作adc,所以才关心其匹配度的问题啊••••••



    我也没有实际流片测试过,标准单元库里的最小mom30f,提取出来是200f的样子

申明:网友回复良莠不齐,仅供参考。如需专业解答,请学习本站推出的微波射频专业培训课程

上一篇:Sigma Delta ADC建模时的系数问题
下一篇:高增益CMOS运放的放大管工作在饱和区?

射频和天线工程师培训课程详情>>

  网站地图