cap_free LDO
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现在已经有非常多的无电容型LDO论文
但发现这些论文在测瞬态特性时
都把负载或输入变化时间设在了us级别
那要是在ns级别的话,变化不知道会不会很大.
感觉现在无电容LDO瞬态特性成了一个重中之重的问题点
大家都有什么好的想法?
但发现这些论文在测瞬态特性时
都把负载或输入变化时间设在了us级别
那要是在ns级别的话,变化不知道会不会很大.
感觉现在无电容LDO瞬态特性成了一个重中之重的问题点
大家都有什么好的想法?
关键是capfree LDO到底在实际中有什么好处?贴片电容已经很便宜了,
而且load transtion capfree 一般都比较差,花精力做capfree的好处是什么呢?
可否有人指点一下
NS transient analysis is importnat , as you see clock syncnize base loading change at clock edge for > 10Mhz clcok speed, loading transient should be nS , not to say > 100MHz system.
片上集成的电容成本相比更低,而且可以省去一个引脚,pcb上也会节省面积吧
节约面积吧
goooooooooooooooooooooooooooooood
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