OTA设计不同工艺角和温度下，增益等参数变化很大怎么办？
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问题就如题了
可以看看在某些corner下是不是有些关键的管子已经从原先的saturation region跑到linear region去了
有的电路结构式可以抗击PVT的变化，有的结构在pvt变化时变得很多，你的很大是变化的百分比多少?
只要在性能容许范围之内，这种变化正常的
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