基准源的测试问题

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去年设计的一款低功耗基准源前几天回来了，芯片上有两个版本，一个是带buffer的，另一个不带buffer。
带buffer的测试正常；不带buffer的用电压表直接测试的时候其直流输出与仿真值有100mv多的偏差，但是用高精度的电压表测试正常，但是会有正负1mv左右的变化，使之不能测试，请问有什么办法解决吗?可不可以在片外加个高增益运放来测?这样测会不会因为pad及pcb板上的寄生效应依然产生小的变化?
还有，大家是怎样测试基准源的噪声的?大家的基准源是怎样测试温度系数的?片内内置的buffer的增益一般多少比较好?
谢谢了

somebody helps me ?

不带buffer的带载能力太弱，测试时采用高输入阻抗，低电容的电表进行测试，探针选用高频探针。我也没测过，只是建议，仅供参考。噪声用示波器或频谱仪应该能测，温度系数则需要把待测芯片防到恒温控制箱里在各种温度下测试。

申明：网友回复良莠不齐，仅供参考。如需专业解答，请学习本站推出的微波射频专业培训课程。

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